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参考文献
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锆合金氧化膜的XPS能谱分析
李佩志邝用庚祝洪耀
西北有色金属研究脘 西安710016
北京钢铁研究总院北京100081
摘要本文采用x射线光电子能谱(xPs)分析方法研究不同锆合金中台金元素在氧化膜中的价态。结果表
明,所有台金元素在氧化膜的表层都达到了其常规较高氧化价态。在氧化膜纵深方向合金元素有多价态组成,
并逐步向低价态转移。
关键词锆台金合金元素价态氧化物
耐腐蚀性能是核用锆合金的重要性能指标之一。目前各国核材料工作者对锆合金的耐腐
蚀性能都进行了广泛研究I””,分析锆合金氧化膜的物相组成,组织形态,结构变化及合金元素
的作用等。对锆合金氧化膜研究有许多方法,常用的有氧化膜的XRD相分析,EPM成份分
领域常用的元素价态及含量分析手段H1。其元素的检测极限优于AES,为总成份的0.1%~1%。
空间分辨率在几平方毫米,信息深度一般在3~30A。本文采用XPS能谱分析方法对不同锆合
金氧化膜进行了价态分析。
1 实 验
本实验主要考察Nb、Sn、Fe和cr等元素在锆氧化膜中的价态和含量变化。因此选择
了四种台金进行试验(见表1)。
表1实验用台金成份(m%)
台金号 Nb Sn Fe Cr Zr
I o
o 余量
2 26 翕量
:{ 1.0 l 0 余量
4 l 0 06 08 泉量
行1小时的腐蚀试验,(大约形成1oooA厚的氧化膜):
离子枪溅射电压600V。
各试样用离子枪分步溅射后,在氧化膜纵深方向得出合金元素的探测谱。考虑到氧化膜
lOJ3
导电性不好以及溅射可能产生的结合能漂移,同时测量了z‰、O,,及C。的结合能作参比,并
以表面吸附的C。。峰值(284.6ev)作内标。
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