时序电路测试中时间及其测试序列识别问题的研究.pdfVIP

1999年5月 第九届全医图象图形学学术会议论文集 中暖圈蒙阻形学会 时序电路测试中时间及测试序列识别问题研究 ● 陈思成魏道政 (上海复旦太掌专用集成电路与系统田寡t点实齄室上海200433) ● 王仲 中囱科学兢计算技术研究所CAD开放实齄室北京100080 摘要：在将组合电路测试生成算法运用到选代组合模型的时序电路翻试生成时会遇到如下一些问题．如大反馈线 识别问题、迭代组合模型中的时间问题、有效铡试序列识别问题、脉冲线的处理问题等。本文针对选代组合模 型的时序电路测试生成中的这些问题，进行了有益的探讨。提出了改进的时序电路测试生成算法，使之更加完 善。同时也提出了快速识别大反馈线与识别有效测试序列的方法． 关键字：对序电路测试、迭代组台、大反馈线、脉冲线 ， ，一 ‘ 女 l引 随着Ⅵ。S1的发展．时序电路的测试生成的研 究变得越来越重要。对大型时序电路的测试生成， 目前国内外较为公认的可行方法为迭代组合模型。 CP 这主要是因为迭代组合模型较为如实地描述了时序 图1 电路中信号线之间的逻辑关系及时闻关系。同时可 将组合电路测试中较为成熟的算法用到时序电路测 试生成中。使用迭代组含模型，在套用组合电路的 测试生成算法时，针对时序电路自身独有的一些特 性，需在以下几个方面加以深入讨论。 一口口}口|口口一 首先了解一下时序电路的模型及其迭代方式。 PO t=O利嘲他班寡 ·i函．耆-8蹦8一iii毹矿 时序电路的基本模型如图l所示，其逻辑关系如公 式(1)所示。 图2 Z(f)=Zcy(f)，X(f)) y(f)=y()，(f)，Ⅳ(f)) 2大反馈线识别问题 y(t+I)=J，(f) 采用迭代组合模型首先需要识别功能块之间的 针对图l所示时序电路模型．其逻辑迭代阵列 反馈线。通常我们称这种功能块之间的反馈线为大 方式如图2所示，电路结构依照时间关系在空间展 反馈线，以区别于功能块内部可能存在的反馈线。 开。 大反馈线识别问题既是个理论问题，又是个工程问 题。理论上已经根成熟12-4]，但运用到实际阔题解 305 决南，计算相当复杂且效率不高．15，6】提-出了工程一定表明该故障在T的下一时刻也不能从该路：径传 解决方法，但通常搜索目标不明确且搜索空间大， 播。因此需观察T的下一时刻后，再判决故障能否 当反馈线逻辑级别较低时，识别问题也变成一个穷 敏化至该功能块的输出。 举搜索问题．针对这种情况，作者提出了一种新的 因此．在运用组合电路的路径敏化的测试生成 快速识别大反馈线的方法【12】。在【12】中针对时序方法对时序电路进行测试时，需要对这些方法进一 电蛞中两类不同的扇出形式，在处理过程中提出了 步完善。注意空间与时间的关系，以适应迭代组合 最大独立锥体的概念及由摄大独立锥体组