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光电工程
维普资讯
第35卷第9期 光电工程 Vo1.35,No.9
2008年9月 Opto—ElectronicEngineering Sep,2008
文章编号:1003—501X(2008)09—0060—06
基于图像配准的STN—LCD外观缺陷检测
沈会 良,张宏刚,李志能
(浙江大学 信息与电子工程学系,杭州 310027)
摘要:提出了一种基于图像配准的超扭曲向列液晶显示器件(STN.LcD)的外观缺陷自动检测方法。该方法首先对
标准模板图像做不均匀光照消除、二值化以及区域信息提取;然后通过控制点检测和仿射变换实现待检测图像和
模板图像之间的配准;并利用各图形区域的灰度平均值和标准方差等统计信息,检测缺段、针孔等各类缺陷。为
提高图像配准精度,进一步提出了有效控制点筛选方案以及混合插值方法。实验结果表明,该方法设计思路合理,
缺陷检测正确率达到98,3D/0’可代替人眼实现对 STN.LCD多种外观缺陷的快速、自动检测,满足实际应用需求。
关键词:STN.LCD;缺陷检测;图像配准;FFT;检测
中图分类号:TP216 文献标志码:A
DetectionofSTN—LCDDefectsBasedonImageRegistration
SHEN Hui-liang,ZHANGHong-gang,LIZhi-neng
(DepartmentofinformationandElectronicEngineering,ZhefiangUniversity,Hangzhou310027,China)
Abstract:amehtodbasedonthetechniqueofimageregistrationisproposedfordetectinghteappearancedefectsof
Super-twistedNematicLiquidCrystalDisplay(STN-LCD),ThestandardtemplateLCD imageisfirstrecoveredfrom
possiblenon-uniform illumination,andhtenhtestatisticalnifomr ationofeachregioniscollectedbyimagethresholdnig
nadregionlabelnig.Thetemplatenadtestingimageareregisteredbycontrol-pointdetectionnadaffinetransfomr ,Th e
defectsincludingsrtoke-lossnadpinholeofhteLCD canthenbedetectedbyusingregionstatisticssuchasmena and
stnadard deviation ofgrayscales.To improvehteaccuracy ofimageregistration,aspecialschemeofconrtol-point
selectionnadhybridimageinterpolationisproposed.Experimentalresults show htattheproposedmehtodisrobustna d
accurate,na dCna detectSTN-LCD defectsautomatically.Th eproposedmehtodisusedforindustrialapplications,na d
offersadvnaatgesoverhtetraditionalmanualnispectionmanner.
Keywords:STN-LCD;defe
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