V2O5熔体的微量氧化还原研究.pdfVIP

维普资讯 第 l6卷 第 4期 无 机 材 料 学 报 Vo1．16．No．4 2001年 7月 JournalofInorganicM aterials JuI．2001 文章编号：i000—324X(2001)04-0697-06 V205熔体的微量氧化还原研 究 魏劲松，赵 康，谷 臣清 (西安理工大学材料科学与工程学院．西安 710048) 摘 要： 将 700、800、 I100。C三种温度下的 V20s熔体制得 v2O5溶胶．在非晶玻璃基 片上将 V2O5溶胶制成 V2O5凝胶薄膜试样．通过对 V20s凝胶薄膜试样 的电阻随温度 的变化 测试和 电子能谱 (ESCA)和X射线衍射分析发现 V205凝胶薄膜 中有四价钒的存在，本文从 V20s熔体 的微量氧化还原和晶体结构的角度分析讨论了微量氧化还原影响钒离子价态变化 的