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第 卷 第 期 液晶与显示
３０ ２
Vol．３０ No．２
Chinese Journal of Li uid Cr stals and Dis la s
年 月 q y p y
２０１５ ４ A r．２０１５p
文章编号: ( )
１００７-２７８０ ２０１５ ０２-０２１３-１１
扭曲向列相薄盒中线缺陷的研究
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余 洋 周 璇 张志东
( , )
河北工业大学 理学院 天津 ３００４０１
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摘要 在扭曲向列相中 基于Landau-de Gennes 理论 利用二维松弛迭代方法 研究了s ＝±１ ２ 扭曲向错的有序重构 给
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出了随着盒厚减小缺陷核的双轴结构 在临界值dc ≈ ９ξξ是序参数变化的相干长度 有序重构结构是稳定态 而带
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缺陷结构是亚稳态 此时系统缺陷结构和双轴性开始沿基板方向扩散 相对于没有初始向错的情况 本征值交换为稳定
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解对应的盒厚较大 在临界盒厚d ≈ ７c ξ系统发生双轴性转变 双轴性结构扩散到整个液晶盒 形成双轴壁 在盒厚 d
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≈ ９ξ时力达到极大值 而d≈ ７ξ时力达到极小值 对于非对称弱锚泊边界条件 随着锚泊强度的降低 弱锚泊边界将向
错逐渐驱出边界.
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关 键 词 有序重构 扭曲向错线 双轴性参数 理论
Landau-de Gennes
中图分类号: 文献标识码: : /
O７５３．２ A doi １０．３７８８ YJYX０２１３
Stud ofline defects in a thin twisted nematic celly
∗
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