高精度金属薄膜磁电阻效应测试系统.pdfVIP

维普资讯 第26卷第12期 仪 器 仪 表 学 报 2005年12月 精度金属薄膜磁 电阻效应测试系统 王立锦 于广华 赖武彦 朱逢吾 (北京科技大学材料科学与工程学院 北京 100083) (中国科学院物理研究所磁学国家重点实验室 北京 100080) 摘要 概述 了探针法金属薄膜磁 电阻效应测试 的原理 ；分析了探针因子对测量结果 的影 响；设计组装 了金属薄膜磁 电阻效应 的高精度测试系统 ，并给 出了微机控制软件 的关键子程序。该系统集数据采样 、数据处理、参数计算等功能于一体 ，用户界面 友好 、测试范 围宽、精度高 。系统软件还 能显示和打印测量结果的数据曲线 ，并可生成标准数据文件供ORIGIN 等数据处理软 件调用 。 关键词 金属薄膜 磁电阻效应 C语 言 计算机辅助测试 IEEE一488 中国分类号 TP206 ．1 文献标识码 A 国家标准学科分类代码 510．8040 HighAccuracyTestingSystem forM agnetoresistiveEffectofM etalFilms WangLijin ‘ YuGuanghua LaiWuyan。 ZhuFengwu (MaterialsScienceandEngineeringSchool，US7 Beijing，Beijingj00083，China) e(StateKeyLaboratory magnetism，instituteofPhysics，ChineseAcademyofSciences，Beijingj00080，China) Abstract The testing principle of the magnetoresistive effect of metalfilms by the probe—method was introduced．Theeffectoftheprobefactoronthemeasuringresultwasanalyzed．A highaccuracytestingsystem wasdesignedandmade，thekeycontrolsubprogram forcomputerwasgiven．Thissystem gathersthefunctions ofsamplingdata，processingdataandcalculatingparameterstogether，andhasafriendlyinterface，awidetest rangeaswellashigh precision．Thesystem software can draw oroutputthecurveofthemeasuringresultat computer screen orprinter，and itcan produce thestandard data fileswhich supportsomedataprocessing softwaresuch asORIGIN． Keywords M etalfilm Ⅳa【gnetoresistiveeffect C language Computerassistingandtesting IEEE一488 体系 。对电子输运特性 的研 究发现 ，控制Cr层的厚度 1 引 言 为 9A时，在 4．2K 的温度下 ，外加 2T的磁场会使得相 邻的Fe层克服反铁磁层间耦合作用而其磁矩平行排