[NI技术]为电池管理系统的逻 辑测试开发一套硬件 在环(HIL)仿真 器.docVIP

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[NI技术]为电池管理系统的逻 辑测试开发一套硬件 在环(HIL)仿真 器.doc

[NI技术]为电池管理系统的逻 辑测试开发一套硬件 在环(HIL)仿真 器 我们选择NI软硬 件开发系统来缩短系 统开发时间、保证系 统可靠性、简化自动 化测试方案的实施以 及维护和维修。 - Sung- Up Hwang, ControlWorks The Challenge: 用高压电池的电压副 本、仿真的高电压电 流传感器和温度传感 器以及仿真的高电压 电池故障,为电池管 理系统(BMS)外 部连接装置 (ECU)创建一个 用于质量诊断的硬件 在环仿真环境。 The Solution: 使用NI LabVIEW软 件,更易于实现图形 化用户界面、支持多 样化的函数功能,并 基于LabVIEW 仿真接口工具包来调 用在 MathWorks 公司仿真软件中创建 的电池模型。 电池管理系统硬件在 环仿真系统硬件配置 Author (s): Sung-Up Hwang - ControlWorks 我们使用HIL仿真 来测试我们复杂的实 时系统。这项技术能 提供一个平台,有效 地检查需要动态模型 的测试主机的控制状 态。 系统概述 我们使用BMS HIL系统来仿真用 于电动或混合动力汽 车的高压电池,以评 估BMS的控制逻辑 和故障诊断功能。我 们使用 Simulink创 建了一个电池模型, 然后利用将电池模型应用到开 发平台。我们也使用NI PXI系统,以确保系统高 效及可靠的运行。 该BMS HIL仿 真系统能在各种测试 案例中完成质量诊 断。通过编写自动测 试方案,我们针对电 池系统重现了所有可 能的测试案例,并使 用来组织和管理各个案 例方案。 我们使用实现系统的快速部 署,使用NI PXI快速产生和采 集信号,精确重现电 池组电压的变化,包 括BMS中的电流和 温度变化。 另外,通过使用 NI TestStand, 我们利用BMS性能 评估测试实例来实现 简化的自动测试方 案。 使用NI产品的优势 我们选择NI软硬件 开发平台来缩短系统 开发时间、保证系统 可靠性、精简自动化 测试方案的实施,简 化系统维护和维修过 程。NI产品也跟 Simulink兼 容。 系统硬件配置 BMS HIL仿真 系统硬件包括安装有 通过LabVIEW 控制整个系统的计算 机、采集和提供 的实时PXI仿真 器、模仿 组的电池组电压生成 器和一组信号信号调 理单元。它也包括模 拟各种测试错误的错 误模拟装置、为 BMS ECU供电 的电源和连接和ECU的接口箱。 1/5 图1:BMS HIL仿真 系统硬件配置 系统软件配置 BMS HIL仿真 系统软件主要分成两 个不同的子系统。我 们利用第一个子系统 手动地生成错误和多 种设置配置来检查 ECU性能;另外一 个是自动系统,使用 NI TestStand 预先设定各种错误, 然后自动检查ECU 性能。 图2:BMS系统信号流程 图 图3:BMS HIL仿真 系统软件配置图 当主计算机接收到用 户发出的控制指令请 求时,PXI实时仿 真器指定实时信号采 集或输出的规则。(FPGA),这些 分散的规则能实时完 成指定的任务。 图4:BMS HIL仿真 器用户界面配置 2/5 图5:应用LabVIEW 仿真接口工具包的电 池模型 电池槽电压、电池温 度和从电池模型中产 生的电池组电流,均 可利用FPGA来仿 真实现。因为 FPGA能够提供高 速的性能,我们能提 高从每个电池组生成 的电流的反应速度。 图6:使用FPGA生成源 自电池模型的电池槽 电压输出 测试方案实施 通过使用NI TestStand (见图7),我们能 依次布置各种发生于 电池系统的错误情况 和相应的配置,从而 简化自动测试方案。 图7:使用FPGA生成指 定温度和电流输出 图8:应用NI TestStand 执行自动测试方案 结论 使用我们的BMS HIL仿真器开发系 统可以减少电动车或 混合动力车电池测试 相关的费用和风险。 该系统也提供测试环 境,包括电池槽电 压、电流和温度,这 些很难共同设置。另 外,应用NI产品可 以提高硬件可靠性并 减少系统开发时间。 通过应用 LabVIEW和 LabVIEW仿真 接口工具包,我们快 速实现了用户界面和 使用了 Simulink中 的应用电池模型。通 过NI TestStand, 我们能配置许多测试 案例,从而得出具有 可读性的BMS性能 评估和简化的自动测 试方案。 3/5 作者信息: Sung-Up Hwang ControlWorks 推荐配置: 硬件: PXIe 6366 数据采集 PXI板卡 软件: NI LabVIEW LabVIEW Simulation Interface Toolkit NI TestStand Author Informat

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