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Ba0.65Sr0.35TiO3陶瓷的制备工艺及其介电性能研究.pdf

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Ba0.65Sr0.35TiO3陶瓷的制备工艺及其介电性能研究.pdf

第 卷第 期 湖北大学学报(自然科学版) 26 2 VOI .26 NO .2 年 月 ( ) , 2004 6 JOurnaI Of Hubei University NaturaI Science EditiOn June 2004 !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 文章编号: ( ) 1000 - 2375 2004 02 - 0123 - 04 Ba0 . 65Sr0 . 35TiO3 陶瓷的制备工艺及其介电性能研究 江 娟,章天金,张柏顺,刘江华 (湖北大学 物理学与电子技术学院,湖北 武汉430062 ) 摘 要:应用传统陶瓷制备工艺制备了Ba Sr TiO 陶瓷,探讨了制备Ba Sr TiO 陶瓷的最佳工艺 0 .65 0 .35 3 0 .65 0 .35 3 条件 用激光粒度分布仪测试预烧粉料的粒度分布,用 衍射仪观察陶瓷的物相结构,用 观察陶瓷的 . XRD SEM 显微结构,用 方法测量陶瓷的绝对密度,用低频阻抗分析仪测试陶瓷的介电性能 实验结果表明: Arc1imedes . 应用传统陶瓷制备工艺获得结构致密、性能优良的 陶瓷的最佳工艺条件为: 预烧 , Ba Sr TiO 1 050 C 2 1 0 .65 0 .35 3 烧结 此工艺条件下制备的陶瓷的介电常数约为 ,介电损耗约 ,密度为 3 1 390 C 2 1 . 4 200 0 .002 5 .463 1 g/ cm . 关键词: 陶瓷;制备工艺;介电常数;介电损耗 Ba Sr TiO 0 .65 0 .35 3 中图分类号: 文献标志码: TB303 A 1 引 言 ( , ) 薄膜由于其介电常数大、介电损耗低、漏电流小、热释电效应显著等优点,可广泛用于 Ba Sr TiO3 [] 集成电容器、铁电存储器和集成微波器件等领域 1 以( , ) 薄膜为基础的焦平面阵列是一种非

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