《CMOS伪差分E类射频功率放大器设计》.docx

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《CMOS伪差分E类射频功率放大器设计》.docx

CMOS伪差分E类射频功率放大器设计 时间:2010-12-15 15:40:47 来源: HYPERLINK NULL \t _blank 电子科技 作者:罗志聪,黄世震 福建农林大学 摘要 分析了E类功放的非理想因素,其中着重分析寄生电感对系统性能的影响,采用伪差分E类功放结构有效地抑制寄生电感的影响。最后基于理想的设计方程和Load Pull技术,采用0.18μmCMOS工艺,设计出高效率的差分E类功率放大器。在电源电压1.8 V,温度25℃,输入信号O dBm条件下,具有最大输出功率26.1 dBm,PAE为60.2%。 关键词 伪差分E类;射频功率放大器;Load pull技术;寄生电感;CMOS ??? E类功率放大器是一种高效率的功率放大器,在理想情况下,它可以达到100%的效率。在这种功率放大器中,功率管的驱动电压幅度必须足够强,使得输出功率管相当于一个受控的开关,在完全导通(晶体管工作于线性区)和完全截止(晶体管工作于截止区)之间瞬时切换。由于流过理想开关的电流波形和开关上的电压波形没有重叠,理想开关不消耗功耗,电源提供的直流功耗都转换为输出功率,将达到100%的效率。 ??? 本文针对蓝牙系统,设计时考虑寄生电感的影响,采用TSMC 0.18μm CMOS工艺设计出了一个差分E类功率放大器,有效地抑制了寄生电感对系统性能的影响,同时给出了设计方法和设计过程。 1 理想射频E类功放工作原理及设计方程 ??? 晶体管E类功率放大器由单个晶体管和负载网络等组成。在激励信号作用下,晶体管工作在开关状态。当晶体管饱和导通时,漏端电压波形由晶体管决定,即由晶体管的导通电阻决定。当晶体管截至时,漏端电压波形由负载网络的瞬态响应所决定。 ??? E类功率放大器要保持高效率,其负载网络的瞬态响应必须满足以下3个条件:(1)晶体管截至时,漏端电压必须延迟到晶体管“开关”断开后才开始上升。(2)晶体管导通时,漏端电压必须为零。(3)晶体管饱和导通时,漏端电压对时间的导数必须为零。 ??? 根据上述3点,具体分析E类功率放大器工作原理及其电路参数的计算。图l为E类功率放大器的电路原理图,其中Cd为MOS管寄生电容与片上电容的和,L1 为高频扼流圈。L0,C0为串联谐振网络,Rload为等效负载。当晶体管饱和导通时,漏端电压为零,由于负载网络的影响,电流Ld(ωt)有一个上升和下降的过程。当晶体管截至时,漏端电压则完全由负载网络所决定。图2所示为理想E类功放漏端电压和电流时域波形,由图可知所以Id(ωt)与 Vds(ωt)不同时出现,使放大器效率趋近于100%,该效率主要由负载网络参数最佳设计来实现的。 ??? 由文献可求得图1所示电路中各个元件的值,即 ? ? 2 射频CMOS E类功率放大器非理想因素分析 ??? 分析了理想功放的设计方程,有载QL的选择,负载网络元器件的选取等,但是这些理论基础都建立在理想情况下,而在实际设计中,必须考虑非理想的因素。非理想因素有多种: ??? (1)寄生电感的影响。 ??? (2)有限的Chock电感。 ??? (3)NMOS开关管有限的导通电阻。 ??? (4)NMOS管寄生电容Cd的非线性。 ??? (5)负载网络的有限Q值。 ??? (6)功率放大器阻抗匹配网络的损耗。 ??? 其中寄生电感对功放的设计结果影响最大,因此将着重分析寄生电感的产生及其改进措施。 ??? 寄生电感分析与改进措施 ??? 功率放大器在实际应用中有3个主要的寄生源,分别为RF电路板、封装和IC。具体表现在输出级源级到地的寄生电感,它对功率放大器的输出功率、PAE、稳定性等产生巨大的影响。寄生电感可以分为以下3个方面: ??? (1)在IC级,功率放大器一般用通孔结构或者键合线联接到衬底地。在实际应用中,可使用多线键合减小地电感。 ??? (2)在封装级,通常用接到封装底部的接地片,或通过封装引线架的地连接实现接地。可用各种方法调整引线架,以减小地电感。 ??? (3)在RF电路板级的地连接一般用通孔接到电路板中间层的专门接地平板。接地的质量由物理特性和与系统地的连接好坏确定。 ??? 接电源(地)的封装线对电路的影响与高速电路中同步开关噪声原理相似。交流电流在封装线上引起的感应电势为 ?? ??? 其中,Le为电源和地封装线的总等效电感。假设当Le=1 nH,交流电流幅度i为300 mA时,即可达300 mV,如果电感和寄生电容发生谐振,振荡信号的幅度会更高,必然会对输出信号形成干扰。电源(地)封装线对电路的另一影响是信号或其谐波可能引起振荡,这些影响是很难通过在电源和地之间接并联大耦合电容得到抑制的。因此采用合理的电路结构才能减轻寄生电感对系统的影响。 3 射频CMOS E类功率放大器设计 ?

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