ito、ao靶材用纳米粉体的制备与ⅲ-ⅴ族半导体合金薄膜的生长研究.pdf

ito、ao靶材用纳米粉体的制备与ⅲ-ⅴ族半导体合金薄膜的生长研究.pdf

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
ito、ao靶材用纳米粉体的制备与ⅲ-ⅴ族半导体合金薄膜的生长研究

摘要 摘要 本论文“ITO、AZO靶材用纳米粉体的制备与III.V族半导体合金薄膜的生 长研究”,在所进行的课题研究上分为两个主要方向:批量分别制备ITO靶材与 三元半导体合金薄膜的热力学研究。论文的主要内容分为透明导电氧化物薄膜 及其陶瓷靶材、1TO靶材用纳米粉体的制备及工艺优化、AZO靶材用ZnO纳米 粉体的制备及工艺优化、SSMBE生长ⅡI.V族半导体合金薄膜的研究四个部分。 取得的主要成果和结论如下: l、利用高压反应釜水热法制备出ITO靶材用Sn02纳米粉体。系统研究了 在批量(0.5kg/批)制备粉体的条件下,各项工艺参数:反应溶液浓度、前驱体 溶液的pH值、水热反应温度、釜内反应最高压力以及水热反应时间等对于sn02 纳米粉体粒径、形貌以及晶型的影响,从而得到优化的制备工艺参数。发现了 与文献报道中不同的现象:在保持反应最高压力恒定的情况下,水热反应温度 对粒径的影响存在一个转变点(220℃),当反应温度低于220℃时,晶粒度会随 着温度升高变大:当反应温度高于220℃时,随着温度升高其晶粒度反而呈现下 降的趋势。水热反应时间也存在一个敏感点(12h),当反应时间低于12h时, 随着反应时间的增加,SnCh开始成核并逐渐长大,晶粒度随着时间的增加而增 大;当反应时间进一步增加到12h后,晶粒度随着时间的延长而变小。 2、利用高压反应釜采用水热法对h1203纳米粉体进行了批量制备工艺的研 粉体的基本工艺。通过调整烧结温度,得到适宜的并能与Sn02粉体相匹配的- In203纳米粉体,为粉体的进一步烧结以及制备ITO靶材奠定基础。 等粉体表征手段,对采用不同锌盐原料、反应溶液浓度、溶剂中乙醇的含量、 煅烧温度等工艺条件对ZnO的粒径、形貌和晶型的影响进行了综合比较研究, 并得到优化的制备工艺参数。 4、采用固态源分子束外延技术生长III.V族半导体合金薄膜材料,建立了 三元化合物的热力学理论模型,将晶格应变能和温度对吸附和脱附的影响这两 个参数因子引入模型中,推导出束流、生长温度和组分在MBE生长过程中的相 摘要 互关系,并根据实验生长数据模拟出所建模型的具体参数值。通过计算拟合得 到的理论曲线与实验数据得到较好的吻合。该热力学模型对后续的IⅡ.V族半导 体薄膜材料的生长具有一定的指导意义。 关键词:ITO靶材AZO靶材纳米粉体固态源分子束外延热力学 Ⅱ Abstract Abstract isfocusedonthe ofITOandAZO TlliSdissertation preparations taget III-Vsemiconductor isdivided andthe of alloyfilms,which nanopowdersgrowth and intotwomaindirections.Oneisthe of Sn02 large·scale In203 preparations and forAZO.Theotheris forFrO materialsZnO target nanopowders nanopowders the of semiconductor SSMBE.There

您可能关注的文档

文档评论(0)

leirenzhanshi + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档