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ito、ao靶材用纳米粉体的制备与ⅲ-ⅴ族半导体合金薄膜的生长研究
摘要
摘要
本论文“ITO、AZO靶材用纳米粉体的制备与III.V族半导体合金薄膜的生
长研究”,在所进行的课题研究上分为两个主要方向:批量分别制备ITO靶材与
三元半导体合金薄膜的热力学研究。论文的主要内容分为透明导电氧化物薄膜
及其陶瓷靶材、1TO靶材用纳米粉体的制备及工艺优化、AZO靶材用ZnO纳米
粉体的制备及工艺优化、SSMBE生长ⅡI.V族半导体合金薄膜的研究四个部分。
取得的主要成果和结论如下:
l、利用高压反应釜水热法制备出ITO靶材用Sn02纳米粉体。系统研究了
在批量(0.5kg/批)制备粉体的条件下,各项工艺参数:反应溶液浓度、前驱体
溶液的pH值、水热反应温度、釜内反应最高压力以及水热反应时间等对于sn02
纳米粉体粒径、形貌以及晶型的影响,从而得到优化的制备工艺参数。发现了
与文献报道中不同的现象:在保持反应最高压力恒定的情况下,水热反应温度
对粒径的影响存在一个转变点(220℃),当反应温度低于220℃时,晶粒度会随
着温度升高变大:当反应温度高于220℃时,随着温度升高其晶粒度反而呈现下
降的趋势。水热反应时间也存在一个敏感点(12h),当反应时间低于12h时,
随着反应时间的增加,SnCh开始成核并逐渐长大,晶粒度随着时间的增加而增
大;当反应时间进一步增加到12h后,晶粒度随着时间的延长而变小。
2、利用高压反应釜采用水热法对h1203纳米粉体进行了批量制备工艺的研
粉体的基本工艺。通过调整烧结温度,得到适宜的并能与Sn02粉体相匹配的-
In203纳米粉体,为粉体的进一步烧结以及制备ITO靶材奠定基础。
等粉体表征手段,对采用不同锌盐原料、反应溶液浓度、溶剂中乙醇的含量、
煅烧温度等工艺条件对ZnO的粒径、形貌和晶型的影响进行了综合比较研究,
并得到优化的制备工艺参数。
4、采用固态源分子束外延技术生长III.V族半导体合金薄膜材料,建立了
三元化合物的热力学理论模型,将晶格应变能和温度对吸附和脱附的影响这两
个参数因子引入模型中,推导出束流、生长温度和组分在MBE生长过程中的相
摘要
互关系,并根据实验生长数据模拟出所建模型的具体参数值。通过计算拟合得
到的理论曲线与实验数据得到较好的吻合。该热力学模型对后续的IⅡ.V族半导
体薄膜材料的生长具有一定的指导意义。
关键词:ITO靶材AZO靶材纳米粉体固态源分子束外延热力学
Ⅱ
Abstract
Abstract
isfocusedonthe ofITOandAZO
TlliSdissertation preparations taget
III-Vsemiconductor isdivided
andthe of alloyfilms,which
nanopowdersgrowth
and
intotwomaindirections.Oneisthe of Sn02
large·scale In203
preparations
and forAZO.Theotheris
forFrO materialsZnO
target nanopowders
nanopowders
the of semiconductor SSMBE.There
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