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失效分析技术在开关电源员量鉴定中的直甩 电子质量 (2013第02期) 失效分析技术在开关电源质量鉴定中的应用 ApplicationofFAThchnologyintheQualityIdentificationforSwitchingPowerSupply 李红高，刘学森，颜景林，刘跃东，杨晓云，刘从俭 (华碧司法鉴定 所，江苏 苏州 215024) U Hong-gao．LiuXue-sen。YanJing-lin，UuYue-dong。Yang Xiao-yun． LiuCong-jian(FALABJudicialidentificationcenter，JiangsuSuzhou215024) 摘 要：开关电源是一种控制开关管开通和关断的时间比率，维持稳定输出电压的一种电源。其核心是 一 片能输出脉宽调制信号(PM 的电源管理芯片。该文从电学分析角度和物性分析手段对电源电路板 进行失效分析，分析发现元件 u2以及三极管Q1电学功能正常 ，但 u2及Q1内部芯片与塑封料界面 有分层现象。 关键词：开关电源；脉宽调制信号；分层 中图分类号：TN86 文献标识码 ：B 文章编号：1003—0107(2013)02—0017—16 Abstract：Switchingpowersupplyisapowersupplywhichcancontrolswitchturn—-onandturn—-offtime ratio。maintainingthestabilityoftheoutputvoltage．PowermanagementchipisItisthekeycomponent．In thepaper，weconductedthefailureanalysisforPCBA ofthesupplywiththemeansofelectricalanalysis andmaterialanalysistechnology．TheresultsshowsthattheElectricalfunctionofcomponentU2andQ1 isnorma1．ButDe—Iam{nationisfoundbetweendieandEMC inthecomponent Keywords：Switchingpowersupply；PMW；De—lamination CLCnumber：TN86 Documentcode：B ArticleID：10o3—0107(2013)02一O017—16 1背景技术 2．1失效现象验证 失效分析常借助电学分析及物性分析手段进行失 收样后随机选 了5个不 良品进行 80~C烘烤 1小时 效点定位查找及失效机理分析。针对集成电路芯片以及 后 ，通电测试发现该5个样品全部恢复正常。 分立元件电学分析，通常简单实用的方法可借助晶体管 2．2失效定位分析 图示仪分析管脚 ，示波器、数字万用表分析其引脚电信 号 ；物性分析手段 ，常用的非破坏性 的有 x—ray透视及 2．2．1外观检查 超声波扫描显微技术。破坏性物理分析常用手段有化学 对送检样品PCBA组件进行外观检查 ，未发现电路 开封技术(De—cap)，扫描电子显微镜内部观察，金相切片 板及其元器件有击穿、破损等异常现象。 分析等手段。本文借助上述先进的技术手段，逐步失效