用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究.pdfVIP

第 33卷第 l1期 电 子 与 信 息 学 报 Vo1．33NO．11 2011年 11月 JournalofElectronics InformationTechnology NOV．2011 用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究 成 玉 马安国 蒋 江 唐遇星 张民选 (国防科学技术大学计算机学院 长沙 410073) 摘 要：低开销容错技术是当前软错误研究领域的热点。为了对微处理器进行低开销容错保护，首先就需要对微处 理器可靠性f即体系结构弱点因子AVFfArchitecturalVulnerabilityFactor))进行准确评估。然而，现有的AVF评 估工具的精确性和适用范围都受到不同程度的限制。该文以微处理器上的核心部件f即存储部件)作为研究对象，对 AVF评估方法进行改进，提出了一种访存操作分析和指令分析相结合的 AVF评估策略 HAESfHybridAVF EvaluationStrateyg)。该文将HAES融入到通用的模拟器中，实现了更精确和更通用的AVF评估框架。实验结果 表明相比其它AVF评估工具，利用该文提出的评估框架得到的AVF平均降低22．6％。基于该评估框架计算得到的 AVF更加精确地反映了不同应用程序运行时存储部件的可靠性，对设计人员对微处理器进行低开销的容错设计具 有重要指导意义。 关键词：软错误；体系结构弱点因子(AVF1；混合AVF评估策略(HAES1；低开销容错 中图分类号：TP302．8 文献标识码：A 文章编号：1009—5s96(2011)112753—06 DOI：10．3724／SP．J．1146．2011．00137 ResearchonReliabilityEvaluationofM emories forLow-costFaultTolerantDesign ChengYu MaAn·g·uo JiangJiang TangYu—-xing ZhangMin·x·uan (School0，ComputerScience，NationalUniversity D n8eTechnology，Changsha410073，China) Abstract：RecentstudiesonsofterrorsfoCUSonthelOW·costfaulttoleranttechniques．thusmotivatinganearlyand accurateevaluationofmicroprocessorreliability(i．e．，ArchitecturalVulnerabilityFactor(AVF))．However，current AVFevaluationtoolshavetheirownlimitationsinaccuracyandapplicability．Inordertoimprovetheaccuracyof AVFestimationofthekeystructuresofmicroproce8sors(i．e．，memories)forlow—costfaulttolerantdesign，this paperproposesaHybridAVFEvaluationStrategy (HAES)whichcombinesmemoryaccessanalysisand instruction identification forAVF evaluation．Then theHAES isintegrated into a generalsimulatorandan improvedAVF evaluationframeworkisimplemented．Experimentalresultsshow thatcomparedwithotherAVF evaluationtools，AVFcomputedusingtheeval