热传导型半导体器件的二次元特征有限体积元方法及分析:H^1模估计.pdfVIP

热传导型半导体器件的二次元特征有限体积元方法及分析:H^1模估计.pdf

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
热传导型半导体器件的二次元特征有限体积元方法及分析:H^1模估计.pdf

维普资讯 2008,28A(3):412—423 黝 数学物理学报 热传导型半导体器件的二次元特征有限体积元方法 及分析: 日1模估计 陈传军 袁益让 (烟台大学数学与信息科学系 烟台264005; 山东大学数学与系统科学学院 济南250100) 摘要:该文构造了热传导型半导体器件的全离散特征有限体积元格式,将特征线方法与有限体 积元方法相结合,采用 Lagrange型分片二次多项式空间和分片常数函数空间分别作为试探函 数和检验函数空间,并进行误差分析,得到了最优阶H 模误差估计结果. 关键词:半导体;特征线方法;有限体积元方法;误差估计. MR(2000)主题分类:65M;65N 中图分类号:0241.82 文献标识码:A 文章编号:1003—3998(2008)03—412—12 1 引言 热传导型半导体瞬态问题的数学模型是由四个方程组成的非线性偏微分方程组的初边 值问题所决定.其中电子位势方程是椭圆型的,电子和空穴浓度方程是对流扩散型的,温度 方程是热传导型的.电子位势是通过电场强度在电子,空穴浓度和热传导方程中出现,并和 相应的初边值条件构成封闭系统.考虑平面区域 QcR 上的二维问题,其数学模型为 [】 一 △ :Q(p—e+Ⅳ()), (X,t)∈Q× J=(0,T]. (1.1) p = V ·[D (x)Ve~』上eV 】一R(e,P,), (,t)∈Q× (1.2) .n v p — = V ·[Dp(x)Vp+』上ppV ]一R(e,P,), (,t)∈Q× (1.3) 11 p() 一△ =[(Dp(x)Vp+up()pV )一(D (x)Ve一』上()eV )】-V ,(,t)∈Q× (1.4) 其中 (1.1)式为电子位势方程, (1.2)和 (1.3)式分别为电子和空穴浓度方程, (1.4)式为热 传导型的温度方程.这里未知函数为电子位势 ,电子、空穴浓度为 e和 P,温度为 .其 中Oz= ,g和 £均为正的常数,分别表示电子负荷和介 电常数. D x)(s=e,P)为扩散 系数, x)(s=e,P)为迁移率,二者之间的关系为D x)= (),UT为热量伏特, N(x)=ⅣD()一ⅣA()为给定函数,ⅣD()和NA(X)分别是施主和受主杂质浓度,当x接 收稿 日期:2006—02—16;修订 日期:2007—09—22 E-mail:cjchen2001@163.com 基金项目:国家重点基础研究专项经费 (G1999032803),国家自然科学基金 10271066)和教育部 博士点基金 (20030422047)资助

文档评论(0)

guan_son + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档