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APF控制器测试方案.doc

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APF控制器测试方案

DSP板硬件电路板初步检查 目的:初步检查电路板各部分工作正常 人员: 内容: 器件参数检查 15V/5V电源测试 DSPA, DSPB与仿真器连接情况及简单运行情况 FPGA初步程序下载,简单运行情况测试 通过DSP仿真器,测试DSPA对FGPA各缓冲区的读写情况 通过DSP仿真器,测试DSPB对FPGA各缓冲区的读写情况 DSPA主体部分程序初步测试 目的:初步测试DSPA主体部分程序及其与外围通信部分的连接情况 人员: 内容: 主体程序基本运行情况测试 与人机界面的连接和通信情况 DSPA电流补偿算法部分程序初步测试 目的:初步测试DSPA电流补偿算法部分程序及其与外围通信部分的连接情况 人员: 内容: 电流补偿算法部分程序基本运行情况测试 DSPA程序的初步联调 FPGA控制的AD采样环节测试 目的: 1)确定AD7658芯片工作正常 2)FPGA能够正确实现总体控制时序河AD采样时序 3)同步信号电路工作正常 4)各路AD采样结果和同步角度结构能够正确放入到相应的缓冲区中 人员: 方式:连接到HIL测试平台,通过测试程序实现 内容: 控制时序:用示波器观察各信号时序,CONVA,CONVB,CONVC,EXINTA,EXINTB, ADCS1,ADCS2,ADRD等信号,对比总体控制时序图和AD采样控制时序图 通过HIL平台,给出各路模拟信号,通过DSP仿真器从DSP侧读取AD采样结果缓冲区。通过HIL为各路模拟通道给出不同的直流电压信号(-5V~0V~5V),测试AD采样结果的顺序和采样值的正确性。 通过HIL平台,给出交流正弦波形,用示波器观察测试硬件部分PLL电路工作正确性,并通过DSP仿真器从DSP侧读取AD采样结果缓冲区中的wt信息。 DSPA电流补偿算法部分程序的HIL测试 目的: 1)确定各路模拟量AD采样工作正常 2)测试各种给定负荷电流情况下的补偿参考电流计算情况 3)测试各种给定情况下的电流有效值计算情况 人员: 方式:连接到HIL测试平台 内容: 通过DSP仿真器测试,在CCS中观察各模拟通道采集数据缓冲区的波形。 HIL设置为各种不同的工作条件(例如:负荷电流可以分别调整正序幅值、相位、负序幅值,谐波模式、整流负荷模式等),测试补偿参考电流的计算结果正确性(一直检验到DPRAMA2B缓冲区的相应各数据。 HIL设置为各种不同的工作条件,测试各模拟量的有效值计算结果。 DSPA主体部分程序的测试 目的: 1)在能够实现的条件下,测试DSPA主体部分程序设计 人员: 内容: 1)测试DSPA与显示模块的通信连接设计 2)测试人机界面的设置参数情况和状态显示情况 3)测试DSPA与FPGA之间的信号交换情况 测试DSPA程序的流程与逻辑根据相关设计说明 DSPA整体程序的HIL测试 目的: 1)测试DSPA程序整体的运行情况,侧重于人机界面显示、参数设置、补偿电流计算等的整体运行情况 人员: 方式:连接到HIL测试平台 内容: 通过HIL给出各种工作条件,测试各种整体的功能,例如:有效值计算后的结果显示、参数设置后对实际计算结果的影响等等。 FPGA功能的测试 目的:测试FPGA的主要功能设计实现情况 人员: 内容:根据FPGA的功能设计逐项测试,主要包括 数据缓冲区功能 故障逻辑和状态逻辑处理功能 PLOCK逻辑处理功能 SOE事件处理功能 AD采集功能(前面已经测试过) DSPB功能的HIL测试 目的:测试DSPB的电流闭环控制功能 人员: 内容:模拟给出参考电流的各命令信息,通过DSPB控制程序进行闭环电流控制,产生参考电压,通过FPGA发出脉冲,送到HIL平台中,实现电流闭环控制功能。 DSP控制板闭环控制功能联合HIL测试 目的:DSP控制板涉及闭环控制功能的各环节的联合测试 人员: 内容:通过HIL给出各种工作条件,测试涉及闭环控制功能的各环节,包括:参数设置、状态显示、参考电流计算、直接电流控制、脉冲发生等。 信号板功能测试 目的:信号板的主要功能测试 人员: 方式:继电保护测试仪 内容: 模拟量采集部分 逻辑部分:开入/开出 过流保护 控制器模拟采集部分校准 目的:DSP板和信号板联合测试模拟量采集部分 人员: 方式:继电保护测试仪 内容: 采集 校准 控制器逻辑部分联合测试 目的:DSP板和信号板联合测试逻辑部分 人员: 方式:模拟各种开入、开出和故障信号 内容: 设置 显示 保护 信号传递

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