EXAFS之基本原理.doc

X光吸收光譜數據處理-1 Data Processing of X-ray Absorption Fine Spectroscopy 李文德、林志明 電機工程系、自然教育系 黎明技術學院、國立新竹師範學院 Win-Der Lee、Chih-Ming Lin D Electrical Engineering, Lee-Ming Institute of Technology, Taipei, 243, Taiwan Department of Science Education, National Hsinchu Teachers College, Hsinchu, Taiwan, R.O.C.黃彥衡 工程與系統科學系 國立清華大學 Yen-Heng Huang Department of Engineering and System Science, National Tsing Hua University, Hsinchu, Taiwan, R.O.C. 吳恭德、陳昌祈 物理系 東吳大學 Kung-Te Wu、Chang-Chi Chen Department of Physics, Soochow University, Taipei, Taiwan, R.O.C. 摘要 自從X光於1895年由Roentgen發現後，由於其波長約為0.1?到10?之間，原子大小相近，遂成為研究凝態原子結構的利器。在相關應用技術中因為X光吸收光譜(X-ray Absorption Fine Spectroscopy簡稱XAFS)可研究物質中特定元素的短程效應，再配合同步輻射光源的發展使得量測實驗數據的過程更加快速簡單，所以自從1971年被引用為原子結構分析的工具後，如今已經成為研究物質結構的重要方法，這也是我們從事此篇研究的原因。 Abstract Since the X-ray was found by Roentgen at 1895, it has been widely applied to study the atomic structure because its wavelengthλis between 0.1? and 10? near the atomic size。 Among technics associated with X-ray, XAFS, as an important tool after 1971, is used to study the short-range effect of special elements in materials; and thus, we can get the experimental data fast with XAFS and synchrotron radiation. The above reason is why this work about the data processing of XAFS is done.  1. 緒言: 一般而言，在X光的能量區段中，物質對越高能量光子的吸收度越低(亦即高能量的X光具有較大的穿透力)，因此物質的吸收係數對X光能量作圖，大致呈現遞減的趨勢，然而在吸收曲線上存在一些躍昇段，乃因入射能量恰好足夠將某一元素原子的內層電子激發(游離)而造成吸收係數突然增加所致。 基本上，我們將X光吸收光譜分為兩個區域： X光吸收邊緣結構(X-ray Absorption Near Edge Structure , XANES) 其能譜範圍從吸收原子之吸收邊緣以 上至~40eV之間，由於受偶極選擇律限制，其內層原子能態與次高(低)之角量子 層電子能態有關。由於XANES包含吸收原子之束縛力及其周圍原子排列有關，可利用其推測吸收原子的結構對稱性以及其有效電荷分佈等資訊，XANES(又稱Kossel結構)雖然表現出更多的電子結構訊息，但其理論仍尚未完整。 延伸X光吸收細微結構(EXAFS) 指吸收係數相對於吸收邊緣以上約40eV延伸至1000eV間。在此區域由於內層電子吸收光子能量而躍遷至連續帶而形成光電子，如果吸收原子周圍有其他原子之存在，則出射光電子離開原來之吸收原子且受其他原子散射而折返，因此出射光電子與折返之光電子相互干繞，此種干繞現象決定於入射光能量，吸收原子與周圍原子種類，周圍原子數目，吸收原子與各層原子間之距離等因素。如果兩種光電子同相(In phase)，則形成建設性干繞，樣品有最大之吸收係數；反之，若兩種光電子異相(Out of phase)，則產生破壞性干繞，形成最小的吸收係數，隨著入射光能量的增加，X光吸收係數顯出能量函數大小起伏變化，此範圍內的吸收光譜稱為EXAFS。(又稱Kronig結構) 2