无损探伤基础知识绪论.pptVIP

阻尼块：也称吸收块，粘附在压电晶片背面，其作用是阻止晶片的惯性振动和吸收晶片背面辐射的声能，从而减小脉冲宽度和杂波信号干扰，阻尼声常用钨粉和环氧树脂按一定比例配制而成。 表面波探头： 是斜探头的一个特例，当斜探头入射角等于第二临界角时，由波型转换得到沿被探材料表面传播的表面波，这种探头称为表面波探头。 双晶探头：又称联合双探头或分割式TR探头，这种探头含两个压电晶片，装在同一个壳体内。一个晶片发射，另一个晶片接收，两个晶片之间用隔声层隔开。防止发射声波直接串入接收晶片。晶片前带有机玻璃延迟块使声波延迟一段时间进入工件。由于使用了延迟块，所以大大减小了盲区，利于近表面检测。多数双晶探头的两个晶片都倾斜一定角度（3-18°）若两个晶片同时发射超声波束，使其交叉覆盖区即为探伤区，声束中心线交点F处灵敏度最高，离开F点灵敏度降低很快。改变晶片倾角，可改变交点F处的位置和覆盖区的大小。倾角越大，交点F离探测面愈近，覆盖区越短粗，探测厚度越小；倾角愈小，交点F离探测面愈远，覆盖区越窄长，探测厚度越大。 1、探伤方法概述 ①按原理分类：可分为脉冲反射法、穿透法和共振法 脉冲反射法：超声波以持续极短的时间发射脉冲到被检工件内，根据反射波的情况来检测试件缺陷的方法。按判断缺陷情况的回波性质，脉冲反射法还可分为： a 缺陷回波法：根据示波屏上显示的缺陷探探探伤图形进行判断的探伤 b