仪器11-2.ppt

§11.3.2 AFS操作 原子荧光分析目前已经能分析58种元素，大多数分析都是利用共振荧光，有一些元素分析利用了直跃荧光和阶跃荧光，表11.3列出部分元素荧光分析所利用的波长。氢化法容易使能形成氢化物的元素转化为气体，然后引入原子化器中进行分析，且测定灵敏度较高。所以这种方法在原子荧光分析中也得到广泛应用。;§11.3.3 UV-Vis操作 1. 仪器测量条件的选择 波长选择：选择吸收光谱曲线的最大吸收波长λmax为测定波长； 狭缝选择：一般为吸收峰半宽度的十分之一, 实验确定。;吸光度范围选择：;△实际工作中，可通过调节待测溶液浓度或样品池的光程长度，使透光率或吸光度值落入该区间内。最适的浓度浓度范围和试样称量可从分析方法灵敏度推导出来。;Date;2. UV-Vis反应条件选择 在无机分析中，金属离子本身的吸光系数很小，很少利用金属离子本身颜色来进行光度分析。一般都选择适当的显色剂，让它与待测离子反应生成光活性物质，然后进行测定。 显色反应一般应满足以下以要求： 1) 反应生成物在紫外或可见光有较大的摩尔吸收系数，并有较高的选择性； 2) 反应生成物组成恒定，稳定性好，显色反应条件容易控制； 3) 对照性要好，有色生成物与显色剂的λmax的差别要在 60nm以上，选择性较高。 一般，通过实验确定显色反应的显色剂浓度、溶液的pH值、反应时间、反应温度、放置时间等条件。;3. 参比溶液的选择：减少试样中非测定组分吸收。 (1) 溶剂参比：当试样简单，共存组分少时，可 利用溶剂作为参比溶液； (2)试剂参比： 不含试样外，其它应与测试溶液 一样, 称为试剂参比； (3)试样参比： 参比溶液中只是不加入显色剂； (4)平行操作溶液参比：用不含待测组分的样品在 相同的条件下平行进行处理，由此得到平行操 作溶液作为参比溶液。;§11.3.4 IR操作 1. 红外光谱法对试样的要求 (1) 试样为单一组分，其纯度应大于98%。 (2) 水有红外吸收，引起严重干扰，使红外光谱失真, 而且会侵蚀窗片, 因此试样不能含有游离水。 (3) 试样的浓度及测试厚度应选择适中，使光谱图中的大多数吸收峰的透光率在10%～80%范围内。;(2) 液态样品： 有液体池法、夹片(液膜) 法和涂片 法。沸点低、挥发性大的试样，可注入封闭的 液体吸收池中，液层厚度应根据吸收大小调整。 (3) 固体样品 常用的方法是压片法、石腊糊法和薄膜法。 压片法：将1～2 mg的试样与纯KBr (KBr在红外全波段无吸收)研细混匀，装入压片机，制成厚度为1 mm的透明样片。;§11.4 干扰及其消除 §11.4.1 AAS中的干扰及其消除 1. 物理干扰：主要是由物理性质有差异而引起的干扰，保持基体组成大致相同可排除。 2. 电离干扰：离子增加，使基态原子减少。加消电离剂，即加更易电离元素，产生大量的电子，抑制待测元素原子电离。 3. 光谱干扰：主要有空心阴极灯内存在杂质气体可产生连续背景辐射，将灯电源反接并通大电流便可消除。测定多谱线元素(如Fe、Co、Ni)时，存 在与分析线邻近的谱线干扰。此时应减小狭缝的宽度，选用较窄的光谱通带进行测量。;4. 背景干扰：这是AAS中的主要干扰，是带状光谱在一定的波长范围内形成干扰。 包括分子吸收和光散射，它使吸光度值增加，产生正误差。目前背景校正方法有：邻近非共振线法、连续光源法和塞曼(Zeeman) 效应法 ① 邻近非共振线校正法 选择一与共振线邻近的非共振线，测量其吸收为AB；在分析线测量的吸收为AT，两次测量的吸光度值之差为校正背景吸收后的待测元素原子吸收吸光度值： A = AT – AB = k C ② 连续光源背景校正法：用氘灯测量背景吸收，两者相减则得校正背景后待测元素的吸光度。;分子吸收形成带光谱的干扰;③塞曼(Zeeman) 效应背景校正法： 恒定磁场调节方式在原子化器上施加一恒定磁场，磁场方向与光束垂直，如图11.16所示。 在强磁场作用下，吸收线分裂为π组分和σ±组分； π(I∥)组分：与磁场方向平行，波长不变； π组分只能吸收与磁场平行的偏振光，且π组分波 长不变；所以 I∥测量的是总吸收； σ