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分析测试中心 显微形貌分析 显微分析 通过获得的形貌分析物体的几何形状和大小，组织结构及分布，表面状况。 所用的分析方法主要有： 光学显微镜（optical microscopy） 透射电子显微镜（ transmission electronic microscopy) 扫描电子显微镜(scanning electrons microscopy) 扫描探针显微镜 (scanning probe microscopy) 场发射离子显微镜 (Field emission ion microscopy) 主要学习内容 透射电子显微镜（TEM） 扫描电子显微镜（SEM） 扫描探针显微镜（SPM） 一 、透镜成像原理 凸透镜成像的规律 阿贝光栅成像 成像系统光路图如图所示。当来自照明系统的平行电子束投射到晶体样品上后，除产生透射束外还会产生各级衍射束，经物镜聚焦后在物镜背焦面上产生各级衍射振幅的极大值。每一振幅极大值都可看作是次级相干波源，由它们发出的波在像平面上相干成像，这就是阿贝光栅成像原理。 1. 透射电子显微镜分析 电子光学的基本知识 透射电镜原理 透射电镜的结构 电子衍射 电子透射成像 高分辨透射电镜 样品制备 透射电镜的应用 1.1 电子的波粒二象性 1.2 透射电镜的基本原理 阿贝光学显微镜衍射成像原理同样适合于透射电子显微镜。不仅可以在物镜的像平面获得放大的电子