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测序常见问题分析实例 峰型整齐，在某一点前后突然变乱信号迅速衰减信号极弱或无信号整条序列信号杂乱?????????????????????????????????????? 峰型整齐，在某一点前后突然变乱： 图1 PolyT特殊结构 ??? 上图是我们的一个质粒测序样品，用T7通用引物进行测序，从图中可以看出，在约285bp的polyT结构后，序列明显变乱。主要原因是在polyT结构后，测序酶容易在模板上滑动，导致polyT结构后的峰型变得杂乱。此类样品通过对其反向互补序列进行测序，一般可以得到好的结果。 图2 移码突变双模板的存在 ??? 上图是我们的一个质粒测序样品，用M13+通用引物进行测序，从图中可以看出，该序列在290bp后序列明显有两套峰存在。造成该现象的原因可能有如下几条： 序列发生缺失突变插入外援片段的载体和未插入外援片段的载体同时存在PCR产物用T载体进行克隆时，PCR片段可以以两个方向克隆进T载体所挑克隆不纯两个大小相近的PCR产物同时存在，无法纯化分开 解决的办法： 对于质粒模板，重新挑选克隆，或从另一段进行测序对于PCR模板，用另一端引物进行测序，或克隆后进行测序 图3 等位基因双模板的存在 ??? 上图是针对一个质粒进行的测序结果，从图中可以明显看出，在序列的80bp到120bp之间有两套峰存在，但是没有发生移码突变。该情况与图2所举的例子有所不同，该情况下从反向进行测序仍然不可能得到好的测序结果。该种情况下只能采取克隆的方法将两套模板分开，分别进行测序。 信号迅速衰减? ???????????????????????????????????????????????????????????????????? 返回 图4 CTT重复结构 ??? 如上图，在大约260碱基后出现了一个严重的CTT重复结构，导致信号迅速衰减，很难得到跨过该区后的信息。该种情况下，只能从另一端进行测序，一般来说，AAG重复结构不会太影响测序。也可以对片段进行亚克隆，使每个片段大小不大于200bp，然后再进行测序。不过，该方法要麻烦很多。 ?图5 GGT重复结构严重影响测序 ??? 上图下半部分是一个质粒模板用M13+通用引物进行测序，大约在130bp开始，出现GGT重复结构，测序信号迅速减弱至消失。上图的上半部分是用M13-通用引物从反向进行测序，在反向序列上该重复是GGT的反向互补序列，即ACC，大约在500bp处，测序很轻松地就读过了ACC重复序列区。GGT重复结构严重影响测序的原因是在测序试剂盒中，为了得到均匀的测序峰型图，G和T碱基均进行了替代，分别替代成I和U，因此与模板的结合能力减弱，测序酶反应到此后就比较难延伸下去，导致该区域后信号迅速减弱。通过优化多种条件，可以对结果有一点改善，但仍然不能得到可用的结果。对该类型的模板，对反向互补链进行测序，可以很轻松地跨过该区域。 ? 图6 GC ??? 上图是一个质粒模板用M13+通用引物进行测序的结果，序列中存在一个GC特殊结构区，在该区域后，信号迅速减弱。上图的下半部分是对测序反应进行优化后的测序结果，在GC特殊结构后，测序信号得到一定程度的改善，但是离一般的测序结果还是相差甚远。针对该类型的模板，一般应从反向进行测序，然后在该特殊结构区附近将两个方向的测序结果拼接起来，得到完整的序列。 图7 模板特殊结构 ??? 上图是一个pGEM-T载体用M13+引物进行测序，可以看出，序列在载体后迅速衰减，造成此现象的原因一直不明，我们试用了多种方法试图解决该测序问题，但几乎毫无效果。该种情况很有可能是在全序列中有大的特殊结构，造成严重的二级结构结构，使测序酶无法读过此区域。正常情况下pGEM-T载体测序结果非常理想。???????????????????????? 返回 信号极弱或无信号 造成该现象主要有两个原因：模板质量极差； ? 引物与模板序列不匹配。 图8 pGEM质粒用T3通用引物进行测序，测序结果无可用信息，因为pGEM载体上无T3通用引物结合位点。上图中两处峰前面的一个主要是未去除的测序反应单体造成的，靠右边的一处峰主要是引物的非特异性反应造成的。 ?????? 在我们每天的测序样品中，有相当一部分测序失败的样品是由于缺少引物结合序列造成的，主要有下面几种原因可能造成该种结果：客户提供了错误的载体信息或引物信息，用客户自己在克隆片段上的引物对质粒进行测序，但是该质粒为空载体，不包含插入片段。载体由于突变，丢失了原来的引物结合位点。 图9 一个PCR产物的测序结果，整个序列信号极低，几乎无可用信息。造成该现象主要是在测序反应中，模板的量太低，所得信号太弱。 ?????? 重新提供足够量的模板