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浅谈光学经纬仪视差和行差的调整 　　摘要：本文通过对光学经纬仪视差行差的定义以及成因加以阐述，结合自己的实践经验说明视差行差的检验及调整方法，供大家共同探讨。 　　关键词：光学经纬仪 光路系统 视差 行差 　　引言 　　检测光学经纬仪测微器行差的目的是检验光学测微器刻度值与度盘刻度值的符合程度。它是影响光学经纬仪角度示值的一项重要技术指标。而视差的存在直接影响读数的精度，严重时甚至无法读数，且该项误差既不能改正也不能消除。由于经纬仪大都在野外作业，经常搬运或受到外在因素影响会使光学测微器视差行差发生变化，因此需要对其进行定期检定、调整，才能确保角度观测精度。 　　一、 光学经纬仪行差的定义及检验 　　光学经纬仪的行差就是在度盘上分划线的名义值与测微器测定值的差值。产生的主要原因是读数显微物镜装配的位置不正确，它未能把度盘刻线影像的间隔按一定的放大倍率呈现在读数窗平面上。为了检验光学测微器的行差，要在其分划盘上配置接近于零的读数，并利用照准部的微动螺旋，使度盘上下影像的对径分划线近似重合，然后按照一定顺序各精密重合两次并读取测微器的读数。在检验过程中应观测16个度盘位置，例如：对于度盘间隔为20?的仪器，往测时以0°0′起，以45°20′为间隔增至315°20′，返测时以337°40′起以45°20′为间隔减至22°20′。 　　二、 光学经纬仪视差的成因 　　对于采用分微尺测微器读数的光学经纬仪，要求度盘分划线的像正好落在测微尺平面上且度盘基本分划间隔大小正好与测微带尺总格值大小相等.若在仪器读数窗中所观看到的度盘分划线的像不是刚好落在测微带尺面上，而是成像在带尺的前面或后面，导致读数视场中，就会出现测微带尺与度盘分划线的像不能同时清楚的现象称为“视差”现象.视差主要是由于显微物镜组的位置不正确造成的。 　　三、 光学经纬仪测微器视差行差的调整 　　由于视差的形成与成像位置有关，而行差的形成与成像的大小即成像透镜组的放大倍率有关.即视差与行差都与透镜成像有关并且经过分析验证得知，与透镜组的相对位置有关。下面以TDJ2型经纬仪为例说明视差行差的调整方法。 　　（一）光学经纬仪度盘视差的调整 　　1、水平度盘物镜成像视差的消除 　　可参照北光TDJ2光学经纬仪构造图，把照准部与水平度盘连接处的一个堵盖旋下，从旋下堵盖的螺孔内可看到校正螺钉。若因像位偏高造成的下像分划线视差，可将校正螺钉旋松并向上少量移动；若因像位偏低造成的视差，可将校正螺钉向下少量移动，视差消除后把螺钉拧紧。 　　2、竖直度盘物镜成像视差的消除 　　竖盘对径两端分划是用竖盘第一物镜和第二物镜成像的。为了便于消除分划像的视差，竖盘第一物镜由两组透镜组成。消除视差时，先把盖板上两个固定螺钉旋下，从支架上卸下盖板。这时可看见两个调整螺钉（即竖盘第一物镜两组透镜的调节螺钉）。若因竖盘物镜成像的像位偏高而造成的竖盘分划像视差，可把靠近竖盘的螺钉旋松并向下移动；若因像位偏低而造成的竖盘分划像视差，可把螺钉向上移动，直至视差消除再拧紧螺钉。 　　对于同时存在视差行差的经纬仪，应根据其不符合程度反复调整直至两者均合格为止。 　　（二）TDJ2型经纬仪竖直度盘行差的调整 　　1、主、副分划线影像格宽相等，存在行差或视差，其原因是竖盘显微物镜组的位置不正确所引起。调整方法：先拆下调整盖板。用小改锥深入调整孔内，旋松显微物镜筒的两个固定螺丝，分别上下拨动两组透镜进行调整。 　　2、主、副分划线影像格宽不等或不能同时清晰 　　其原因是由于竖盘对径分划符合系统中的1：1成像透镜组位置不正确引起。调整时先拆下竖盘一侧的护盖，然后用改锥分别逐个移动两组透镜的位置，调整到主副像的格宽相等并能同时清晰为止。上一步调好后还要测定行差、视差。如不符合要求，还要调整竖盘显微物镜组位置，直到主、副像的格宽相等后的行差及视差也同时满足要求。 　　（三）TDJ2型光学经纬仪水平盘行差的调整 　　一般来讲， TDJ2只有一个度盘有行差，则故障产生在水平或者垂直度盘光路中，如两个度盘都有行差，则故障发生在测微系统中。对于测微系统出现故障而引起的行差（产生这种现象的原因是测微盘与阿基米德螺旋槽盘的相对位置不正确）可用小起子旋松测微盘固定于轴上的一个止头螺丝，然后按相应的方向略微转动测微盘，反复调整至合适为止，并旋紧止头螺丝。 　　而对于光路系统故障引起的行差则应分两种情况加以调整： 　　1、主、副分划线影像格宽相等，存在行差或视差 　　先旋下显微物镜的两个调节孔堵盖，用小改锥深入调节孔内旋松显微物镜筒的固定螺丝，上下移动其透镜筒进行调整。此项调整工作较麻烦，两组透镜要分别一组一组地相互配合进行调整，边调边观察，直至行差视差都消除为止。 　　2、主、副分划线