核信息获取与核电子学(第九章)专用课件.pptVIP

第九章核信息仪器检测 核电子仪器的检测 ： 　　　核信息仪在投入工程和科研测试工作前，必须对其性能指标检测，达到标准方能投入使用。同理对其要变换的探测元件等也要进行检测，达标的器件方能装到仪器上使用。 第九章核信息仪器检测第一节 探测元件检测方法 闪烁体检测 １、简单检测方法： Ａ、外观检查 正常的NaI(Tl)晶体是无色透明的，受潮后晶体发黄，这会使仪器性能变劣。所以，检查晶体时首先应察看是否有破裂、发黄等现象。如外观检查没有问题，再用替代法进一步确定性能是否符合要求。 Ｂ、替代法检查 对于71型仪器所使用的晶体可以这样检查：找一台正常工作的仪器，用源照射探头，调整仪器高压，使管射极跟随器的输出脉冲幅度为660mV（用示波器测量），然后换用待查晶体，若输出脉冲幅度小于400mV，则可认为晶体性能不良。 第九章核信息仪器检测第一节 探测元件检测方法 闪烁体检测 ２、能量分辨率检测方法： Ａ、被测探测元件装入单道脉冲幅度分析器探头（内装优质光电倍增管），将参考源例如3-6微居里铯源，置探测元件顶端。 Ｂ、道宽调到最窄，例如0.1或0.2V。 Ｃ、启动仪器，左右旋动下阈值旋扭，观察计数器的计数速度，计数最快处，大约是能量峰位，再提高阈值，直到刚好没有读数。 Ｄ、每隔0.1或0.2V（或格）降低下阈值，记下每次单位时间的读数，读数的变化规律是由低到高，再由高到低。直到测量值降低到不变或变化很小时为止。 Ｅ、将每个读数对应的V值（或格）作曲线。如图9.5.1所示，曲线峰对的横坐标的点就是参考源能量位。 Ｆ、以参考源峰位能量位对应的伏（或格）为标准用直线法求得：KeV/V（格）系数。 Ｇ、在峰位一半读数处，作横坐标平行线，交于曲线a，b点。过a，b点引线垂交横坐标得a’、b’。 a’b’间的能量值称半宽度能量。 第九章核信息仪器检测第一节 探测元件检测方法 闪烁体检测 ２、能量分辨率检测方法： 第九章核信息仪器检测第一节 探测元件检测方法 闪烁体检测 ３、使用闪烁体的注意事项： Ａ、NaI(Tl)晶体的最大缺点是极易潮解，晶体发黄就是受潮的一个特征。受潮后会使晶体透明度下降，减弱光的输出，造成仪器灵敏度下降。受潮严重时，甚至会使晶体完全失效。所以使用NaI(Tl)晶体的仪器要注意防潮，较长时间不用晶体应放在干燥皿中保存，在没有干燥皿的地方也可以浸在不含水的油（如变压器油）中，或者密封在塑料代中保存。 Ｂ、NaI(Tl)晶体的机械性能脆弱，易碎裂，故使用时要小心，要防止激烈的振动和冲击。 Ｃ、要注意防止使用和存放晶体的环境温度骤变，以免晶体碎裂，特别是对于大体积的晶体更应该注意这一点。NaI(Tl)晶体的使用温度范围为－10～+45℃。 Ｄ、要避光保存。若因强光照射使其变色时，可用长期避光方法使其褪色。这种方法在一定程序上可以恢复其性能。 第九章核信息仪器检测第一节 探测元件检测方法 光电倍增管的检测 １、常用检测方法： Ａ、外观检查 仔细观察管壳有无裂纹、破损处，正常光电倍增管的光阴极端面为茶褐色，如无茶褐色则说明光阴极涂敷材料已脱落，这种管子无法工作。 Ｂ、替代法检查 选一台正常工作的仪器，取下原装光电倍增管，装上待测管（仍用原闪烁体），用绝源贴紧端面，然后调整高压（对于71型仪器来讲，就是调电阻），对于用71型仪器上的GDB－235型管来说，如果高压必须大于1200V才能使管输出脉冲等于400mV，一般则可以认为这种光电倍增管性能已不符合要求。各种仪器都有不同要求。 Ｃ、仪器生产厂挑选光电倍增管的方法 第九章核信息仪器检测第一节 探测元件检测方法 光电倍增管的检测 １、常用检测方法： Ｃ、仪器生产厂挑选光电倍增管的方法 第九章核信息仪器检测第一节 探测元件检测方法 光电倍增管的检测 ２、光电倍增管的使用注意事项： Ａ、光电倍增管必须避光使用，严禁漏光。 Ｂ、一旦光电倍增管受到光照以后，工作前必须避光一段时间，其性能才能恢复正常。曝光时间愈长，避光时间也应相应加长。 Ｃ、为使闪烁体探测器正常工作，应提前接通电源，使光电倍增管达到稳定工作状态。 Ｄ、光电倍增管及管座保持清洁、干燥，以防止漏电而产生干扰。拆卸及搬运光电倍增管时应轻拿轻放，防止震动。 Ｅ、磁场对光电倍增管工作有影响，应注意采取适当的磁屏蔽措施（大多数仪器都有）。 Ｆ、应选择合适的光电倍增管高压。过低，光电倍增管潜力不仅不能正常发挥，而且性能不好；过高，不仅耗电多，噪声会增加，而且对管子使用寿命也有影响。一般可先按说明书推荐的电压选取高压，然后再根据所用仪器的能量阀来确定。 Ｇ、有的光电倍增管由于制作工艺问题。造成管内存在少量渣状物（常称为铯渣），从而引起电极间高压短路。遇到这种情况，可轻轻敲击管子，