「奈米晶与非晶合金制程实验」单元逢甲大学材料科学与工.ppt

( ) 將Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9 合金以急冷旋鑄機製成數十微米厚的薄帶，此時金屬的X-ray繞射掃描圖呈（A）單一寬廣（B）單一尖銳（C）許多尖端 的繞射峰。 ( A ) 將Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9 合金以急冷旋鑄機製成數十微米厚的薄帶，此時金屬的X-ray繞射掃描圖呈（A）單一寬廣（B）單一尖銳（C）許多尖端 的繞射峰。 ( ) Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9 合金，以急冷旋鑄機所製成的薄帶，其硬度較以VAR所製成的錠為（A）高（B）低（C）一樣。 ( A ) Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9 合金，以急冷旋鑄機所製成的薄帶，其硬度較以VAR所製成的錠為（A）高（B）低（C）一樣。 ( ) 奈米晶合金表示晶粒尺寸在（A）1nm以下（B）1~100nm（C）100~1000nm。 ( B ) 奈米晶合金表示晶粒尺寸在（A）1nm以下（B）1~100nm（C）100~1000nm。 ( ) 藉由（A）冷加工（B）熱處理 可使非晶合金薄帶變成奈米晶合金。 ( B ) 藉由（A）冷加工（B）熱處理 可使非晶合金薄帶變成奈米晶合金。 ( ) Tm通常表示金屬的（A）熔點（B）沸點（C）露點。 ( A ) Tm通常表示金屬的（A）熔點（B）沸點（C）露點。 ( ) 適當地控制熱處理溫度略高於（A）Tm（B）Tg（C）Tx 可使非晶合金變成奈米晶合金。 ( C ) 適當地控制熱處理溫度略高於（A）Tm（B）Tg（C）Tx 可使非晶合金變成奈米晶合金。 ( ) 以光學顯微鏡量測奈米晶合金薄帶晶粒尺寸是否可行（A）是（B）否。 ( B ) 以光學顯微鏡量測奈米晶合金薄帶晶粒尺寸是否可行（A）是（B）否。 ( ) 以X-ray繞射法量測奈米晶合金薄帶晶粒尺寸是否可行（A）是（B）否。 ( A ) 以X-ray繞射法量測奈米晶合金薄帶晶粒尺寸是否可行（A）是（B）否。 ( ) 將合金薄帶之X-ray繞射掃描圖，採用Scherrer Equation 計算晶粒尺寸需選擇（A）低角度（B）高角度（C）以上均可 的繞射峰。 ( A ) 將合金薄帶之X-ray繞射掃描圖，採用Scherrer Equation 計算晶粒尺寸需選擇（A）低角度（B）高角度（C）以上均可 的繞射峰。 ( ) Scherrer Equation t = 0.9λ/B cosθB中 t 為（A）試片厚度（B）晶粒尺寸（C）原子大小。 ( B ) Scherrer Equation t = 0.9λ/B cosθB中 t 為（A）試片厚度（B）晶粒尺寸（C）原子大小。 ( ) Scherrer Equation 中B為（A）繞射峰高（B）繞射峰底部（C）繞射峰半高寬 的徑度。 ( C ) Scherrer Equation 中B為（A）繞射峰高（B）繞射峰底部（C）繞射峰半高寬 的徑度。 ( ) Scherrer Equation 中λ為X光入射波長，若λ=0.154nm表示激發X-ray之靶材為（A）銅（B）鉬（C）鐵。 ( A ) Scherrer Equation 中λ為X光入射波長，若λ=0.154nm表示激發X-ray之靶材為（A）銅（B）鉬（C）鐵。 ( ) 在X-ray繞射掃瞄圖中，所顯示繞射峰角度為（A）θ（B）2θ（C）0.5θ。 ( B ) 在X-ray繞射掃瞄圖中，所顯示繞射峰角度為（A）θ（B）2θ（C）0.5θ。 ( ) 易形成非晶質的金屬，通常具有（A）容易（B）不容易 形成複雜的介金屬化合物。 ( A ) 易形成非晶質的金屬，通常具有（A）容易（B）不容易 形成複雜的介金屬化合物。 ( ) 易形成非晶質的金屬，通常具有（A）淺的（B）深的 共晶點。 ( B ) 易形成非晶質的金屬，通常具有（A）淺的（B）深的 共晶點。 ( ) Tg通常表示非晶質金屬的（A）液相溫度（B）結晶溫度（C）玻璃轉換溫度。 ( C ) Tg通常表示非晶質金屬的（A）液相溫度（B）結晶溫度（C）玻璃轉換溫度。 ( ) Tx通常表示非晶質金屬的（A）液相溫度（B）結晶溫度（C）玻璃轉換溫度。 ( B ) Tx通常表示非晶質金屬的（A）液相溫度（B）結晶溫度（C）玻璃轉換溫度。 ( ) Tg及Tx可藉由（A）示差掃描計(DSC)（B）X-ray繞射儀量測 得知。 ( B ) Tg及Tx可藉由（A）示差掃描計(DS