材料近代物理检测方法习题.doc

X射线衍射物相定量分析的原理，方法，应用。 原理：定量相分析得理论基础是，物质的衍射强度与该物质参加衍射的体积成正比，根据衍射线的位置和强度便可确定物相有多少(各相衍射线强度随该相在混合物中相对含量的增加而增强)。 K值法： 方法：往待测试样中加入一定量标准的内标物质(一般情况下用刚玉粉)制成复合试样，然后测定待测相的某一衍射线条强度与内标物质某一衍射线强度之比。 步骤： (1) 测定值：往待测相中加入一定量标准的内标物质，制成重量比1：1的复合试样，测定待测相的某一衍射线条强度与内标物质某一衍射线强度之比。。 (2) 向待测样中加入与测值时相同的内标物质(量不限)。 (3) 测量复合试样，所选衍射峰及实验条件与测值时相同。 (4) 计算待测相含量，， 特点： (1) K值与待测相和内标物质的含量无关，因此可以在待测相中加入任意含量的内标物质。 (2) 只需要制备一个混合样就可以测量出一个相的K值，不需要制作定标曲线。 (3) K值具有常数意义，只要待测相、内标物、实验条件相同，无论相的含量如何变化都可以使用相同的K值。 (4) 需要加入标准物质，是粉末状试样定量分析可选方法。 (5) 在现有的许多PDF卡片上记录了相的K值，可以用于实验室无法获得待测相的纯样的情况。 绝热法： 方法：用试样中的某一个相作为标准物质，测定待测试样中各相某一衍射线强度与标准物质某一衍射线条强度之比。 特点：绝热法定量分析时不与系统以外发生关系，即不掺入标准物质，而是以系统内的某一个相作为标准物质。 优点：(1) 不需要加入标准物质，是块状试样定量分析的可选方法。 (2) 不加入内标物质，不稀释样品中物质的含量，有利于减少测量误差。 (3) 一个样品一次扫描就能计算出全部物相的含量。 步骤： 测定K值 选取待测试样中第j种物质作为标准物质，测量复合式样，写出(n-1)个方程： , 式中i=1，2，3 …… n，又有 直接对比法： 方法：不需要向试样中掺入标准物质，而是直接测定两相的强度比，与含量无关的衍射强度参数可通过理论计算求得，同时适用于粉末和整体试样。此方法适用于钢中残余奥氏体含量测定及其它同素异形转变过程的定量相分析。 特点：不需要向被测试样中掺入标准物质，而是以两相的强度比为基础。 应用：以使用K值法测定硅铁中的硅含量为例。步骤如下 按1：1比例称取硅标样和内标物碳酸钙各2g，充分研磨。选取碳酸钙的(104)峰和硅的(111)峰，测出K值为2.027。 取待测试样1g，加入与测K值时相同的碳酸钙3.5g. 测量复合试样，选取碳酸钙的(104)峰和硅的(111)峰。 根据衍射峰强度和K值，考虑到试样中二硅铁的含量，结合经验公式，通过计算得到待测试样中硅的含量为70.68%。 X射线衍射线形分析的原理，方法，应用。 原理：理论上，物相的衍射线应该为一条几何直线；但实际上，物相的衍射线是具有一定宽度并且对称的。这是由于衍射线的宽化，衍射线的宽化包括仪器宽化和物理宽化。 产生仪器宽化的原因有：X射线管焦斑不是理想的几何线，因此产生的入射线具有一定的发散度；平板试样引起的欠聚焦、试样的吸收、衍射仪的轴偏离和接受狭缝的宽度等。 物理宽化则是由材料中的晶格畸变、晶块细化等缺陷引起。其中晶块细化宽化是由于当晶块尺寸小于100nm时，相当于相干散射区三维尺度上晶胞数都很小，所对应的倒易阵点变为具有一定体积的倒易体元，其选择反射区更大，衍射峰变宽。晶格畸变引起的宽化是因为晶块尺寸范围内的微观应力或晶格畸变导致晶面间距发生对称性改变，使倒易矢量值产生相应的波动范围，在多晶衍射ewald图解中，倒易球具有一定厚度，与反射球相交时，得到宽化的衍射环。 X射线线形分析就是根据以上原理，通过实验测得衍射线的加宽，从而计算得到晶格畸变量和细小晶粒的尺寸等。 方法： 双线条法：测量同指数的两条谱线，如（111）和（222）或（110）和（220），可分离出4个参数值m1, n1和m2, n2。因为晶块细化导致的加宽采用小衍射角的数据更精确而畸变引起的宽化采用高角度数据更可靠，因此，选择m1, n2 分别计算晶粒尺寸和晶格畸变 双线条法实验步骤： (1) 测量标样谱线，计算仪器宽度b； (2) 测量待测样品的两条衍射谱线宽度B1，B2； (3) 计算物理加宽β； (4) 分离晶粒细化宽度m和晶格畸变宽度n； (5) 计算亚晶粒尺寸和晶格畸变。 应用：HF酸处理石墨矿石(1# 试样)和酸碱混合法处理石墨矿石(2# 试样)在经过石墨化温度(2770K)处理得到合成金刚石用的粉状石墨。处理后1#试样变为3#试样、2#试样变为4#试样。 通过线形分析，发现1#试样变为3#试样、2#试样变为4#试样后晶粒尺寸不变，微观应变增加。在X射线衍射谱中，我们发现1#试样