基于扫描链二次排序组合的低功耗测试方法.pdfVIP

ISSN 1009-3044 Computer KnowJedge and TechnoJogy电脑知识与技术 Vol 0, No 29, Oc ober 20 4 基于扫描链二次排序组合的低功耗测试方法 焦格1气范双南t E- mail: kfyj@dnzs.net.cn h忧p:/，八vww.dnzs.net.cn Tel:+86-55165690964 (湖南交通工程学院电气与信息工程系 ，湖南衡阳 4200 ;2衡阳师范学院讨算机科学系，湖南衡阳 42 002) 捕要:减少 $oC的测试时间是降低测试成本的有效方法。 提出一种二次排序缉令的扫描链乎衡算法以减少 lP核测试时 间。 算法首先对内部扫描链按升序排列 ，然后对其进行mod n(封装后扫描链的条数)划分，得到 n个余数序列，将余数为 0 的序列按降序排列 ，与其它余数序列组合成新的序列 ;对新序列再进行一次mod n :lì.] 分 ，再次得到 n个余数序列，最后对各 余数序列分别求和 ， 求和的结果即为 n条扫描链封装后的扫描链长度。 在 lTC 02 J.!_准电路上的实验结采表明，该算法能 有效地缩短 lP核测试时间。 关键词:划分$oC测试 ;扫描链平衡;二次排序组合 中国分类号 :TP391 文献标识码 :A 文章编号: 1009- 3044(2014)29- 7000- 0