基于物理版图信息的低功耗扫描测试方法.pdfVIP

C 设计 熙熙曹囚 于精 圄 侃功.担 测试万法 刘羹达，万培元，林平分 (北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室，北京， 100124 ) 摘要:芯片测试，模式下功耗过高的情形会极大地降低芯片良卒，已经成为越来越严重的问题. 针对此，问 题，本文提出了一种降低测试功耗的设计方法. 该方法采用贪婪算法来改变扫描链顺序，同时考虑芯片 物理版图中寄存器单元的具体位置，能够实现在不影响测试覆盖率和绕线的前提下，快速有效地降低测 试功耗.与已有的多种方法相比，该方法是快速是合理，可以应用于多种芯片的扫描链设计.该方法通过 一款实际的电力线载波通信芯片验证，分别将乎均功耗和瞬态功耗降至 77/.和 83/. . 关键词:扫描测试;低功耗;贪婪算法;片 上系统;绕线 Method of Low Power Scan Test ?ased on Physical Layout Information LIU Yan-巾， W AN Pei-yuan, LIN Ping- fen (Beijing Embedded System Key Lab, Beijing University of Technology, Beijing 1∞124， China) Abstract: 刊e high testing 阳wer consumption critically influences t