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VLSI系统设计 第7章 测试技术和可测试性设计 （2010-2011） VLSI系统设计-7 东南大学电子科学与工程学院 VLSI系统设计-7 东南大学电子科学与工程学院 VLSI系统设计-7 东南大学电子科学与工程学院 7.1 VLSI可测试性的重要性 任何集成电路在制作完成后都必须通过测试来最后验证设计和制作的正确性。 测试的问题在设计的初始就必须加以考虑。 可测试设计是再设计问题。 .1 为实现对错误和缺陷定位，就是要解决测试的可控制性和可观察性。希望内部节点都是“透明的” 。 可测试性设计成为VLSI设计中的一个重要部分。 测试的意义在于可以直观地检查设计的具体电路是否能正确的工作。更重要的目的是希望通过测试确定电路失效的原因以及失效所发生的具体部位，以便改进设计和修正错误。 .1 转变测试思想，直接对电路内各个节点的测试； 分块测试，降低测试的复杂性，利用模块化设计的特点； 增加附加逻辑和电路，改进其可控制性和可观察性，覆盖全部的硬件节点； 添