基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成.pdfVIP

第 24 卷 第 4 期 2001 年 4 月 计 算 机 学 报 C INESE J. C0 MPUTERS VOl. 24 NO. 4 ================================================================== Apr. 2001 基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成 李兆麟1D 叶以正2D 毛志刚2D 1D ( 北京大学微电子学研究所 北京 100871D 2D ( 哈尔滨工业大学微电子中心 哈尔滨 150001D 收稿日期 : 1999 12 27; 修改稿收到日期 : 2000 10 16. 李兆麟 男 1973 年生 博士后 主要研究方向为集成电路的设计和测试 . 叶以正 女 1937 年生 教授 博士生导师 主要研究方向为集成电路的设计方法学 ~ 逻辑综合技术 ~ EDA 工具研究等 . 毛志刚 男 1962 年生 教 授 博士生导师 主要研究方向为集成电路设计及 IC 卡芯片设计 ~ 应用等 . 摘 要 针对基于多扫描链的内建自测试技术 提出了一种测试向量生成方法 . 该方法用一个线性反馈移位寄存 器 ( LFSR D 作为伪随机测试向量生成器 同时给所有扫描链输入测试向量 并通过构造具有最小相关度的多扫描链 来克服扫描链间的相关性对故障覆盖率的影响 . 此外该方法经过模拟确定难测故障集 并针对这个难测故障集利 用 ATPG 生成最小确定性测试向量集 . 最后再依据得到的最小测试向量集来设计位改变逻辑电路 利用位改变逻 辑电路控制改变扫描链上特定位的值来实现对难测故障的检测 从而实现被测电路的故障完全检测 . 关键词 基于扫描的内建自测试 多扫描链 线性反馈移位寄存器 最小相关度 中图法分类号 : TP 302 Test Pattern Generation in B1ilt - In Self - Test with m1ltiple Scan Chains LI ZhaO Lin 1D YE Yi Zheng 2D MA0 Zhi Gang 2D 1D ( Lnstlt/te of Ml 7oele t7onl s Peklng Unl e7slt} Bel lng 100871D 2D ( Ml 7oele t7onl s Cente7 Ha7Zln Lnstlt/te of Te nolog} Ha7Zln 150001D Abstract Scan baSed bu ilt in Self teSt ( BIST D Which naturally extendS Scan baSed teSt methOd OlOgy With teSt patternS applied f rOm teSt egu ipment tO BIST can be uSed fOr the Self teSt Of Se guent ial circu itS and attain higher fau lt cOVerage . If the circu it under teSt ( CUT D cOntainS mu lt i ple parallel Scan chainS a parallel generatOr iS needed . KnOWn aS the cOmmOn pSeudO randOm pattern generatOr ( PRPG D an LFSR can be cOnf igured tO generate a randOm pattern Stream . The PRPG baSed patternS may be applied tO the exiSt ing Scan architecture directly f rOm the LFSR Or thrOugh SOme decOrrelat iOn lOgic . In Order tO attain higher fau lt cOVerage it iS Very impOrtant tO analyze the teSt pattern generat iOn in the Scan baSed BIST . The paper preSentS a k ind Of Scheme fOr teSt pattern generat iOn in the Scan baSed BIST fOr the circu itS With mu lt iple Scan chainS . In the teSt pattern gen