单光束Z扫描法测量NdYVO4的非线性折射率.pdfVIP

第34 卷第 8 期 2005 年 8 月 光 子 学 报 ACTA PHOTONI CA SI NI CA Vol .34 No .8 Au g ust 2005 Tel ! 029 Email ! davi dk wan78 ＠ hot mail .co m 收稿日期 ! 2004 06 15 单光束 Z 扫描法测量 Nd YVO 4 的非线性折射率 关 俊 1 3 李 霞 2 程光华 1 3 陈国夫 1 候 沟 1 2 1 中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学技术国家重点实验室 , 西安 710068 2 河南大学 物理与信息光电子学院 , 开封 475001 3 中国科学院研究生院 , 北京 100039 摘 要 采用单光束 Z 扫描方法 对 4 mm 厚 Nd YVO 4 晶体的非线性折射率进行了测量 # 采用 薄样品理论对测量数据进行计算处理 所得出的结果与其他不同方法测得的结果相吻合 . 由此证 明这种简单的测量和处理方法的合理性和有效性 . 关键词 非线性折射率 $ Z 扫描 $ Nd YVO 4 中图分类号 TN248 .1 文献标识码 A 0 引言 非线性折射率 2 是研究介质非线性光学效应 的重要参数 . 它的测量已有多种方法 , 例如非线性干 涉法 [ 1 ] ~ 简并四波混频 [ 2 ] ~ 简并三波混频 [ 3 ] ~ 自衍 射 [ 4 ] ~ 椭圆偏振法 [ 5 ] 以及光束畸变法 [ 6 ] 等 . 前五种 测量方法是利用非线性干涉原理 , 测量灵敏度高 , 但 不能直接测量非线性折射率的符号 , 并且测量仪器 较为复杂 ; 最后一种测量方法较为简单 , 而且可以得 出非线性折射率的符号 , 但是 , 测量灵敏度较差 , 而 且还需对光束在非线性介质中的传播过程进行详细 的分析 .Z 扫描法测量非线性折射率不但操作简单 而且可以直接得出非线性折射率的符号和大小 , 且 有强大的其他功能 . Nd YVO 4 晶体属四方晶系 , 错石英结构 , 单 轴晶系 , 空间点群为 D 4h I4 / a md , 中心对称结构 , 没 有二阶等偶阶非线性效应 , 适合采用 Z 扫描方法进 行非线性折射率的测量 . 因此 , 本文采用单光束 Z 扫描法对 Nd YVO 4 晶体的非线性折射率进行了 测量 . 1 测量原理 Z 扫描技术是研究三阶非线性光学特性的一种 重要方法 , 它建立于光束空间畸变的原理基础之上 . 由于在测量过程中要求被测试样品沿单光束传输的 光轴方向移动 , 因而将该方法称之为 Z 扫描 , 如图 1. 其可由远场小孔透过率的变化和诱导相移的简 单线性关系可直接推导出非线性折射率的大小和符 号 , 对于具有非线性吸收的介质 , 也可直接测量出其 非线性吸收系数 . 自 1989 年由 Shei k bahae 等人 提出以来 [ 7 ] , 在短短的十几年时间内 , 该技术得到不 断的完善和发展 . 目前 Z 扫描技术大致可以分为单 色 Z 扫描 ~ 双色 Z 扫描 ~ 遮挡 Z 扫描和反射 Z 扫描 等四类 . Z 扫描技术有着较为强大的功能和潜力 , 相继被应用于其它方面的测试和研究 [ 8 ～ 14 ] . 图 1 Z- 扫描实验装置 Fi g .1 Set u p of t he Z-scan ex p eri ment 根据 U O p laZ Technol o g i es 公司提供的数据 , Nd YVO 4 晶体在 1 0 6 4 n m 处的吸收系数小于 0 .1 % c m 1 , 且 Nd YVO 4 晶体最常见的受激辐射 的波长正是 1064 n m , 而我们采用 1064 n m 的光进 行 Z 扫描测量 , 所以在测量实验中我们忽略晶体的 非线性吸收 , 而只进行闭孔的 Z 扫描实验 . 因此本 文主要说明 Z 扫描在介质非线性折射率测量方面 的理论 , 由于不考虑材料的非线性吸收 , 所以以下只 介绍单光束闭孔 Z 扫描理论 . 对于只具有奇次阶非线性折射率的光学材料来 说 , 其折射率的大小与光强的关系为 = 0 + 丛 = 0 + 2 E 2 = 0 + v I 1 其中 0 为介质的线性折射率 , 2 为非线性折射率 , E 为电场强度 , v 为光克尔常数 , I 为光强 . 2 和 v 的关系为 2 esu = c 0 80 。 v m 2 / W 2 假设 TEM 00 模高斯光束沿 +Z 轴方向传播 ,