溶液环境中工作的扫描近场光学荧光光谱显微术.pdfVIP

第 22 卷 第 5 期 2003 年 10 月 电 子 显 微 学 报 Journal of Chinese Electron Microscopy Society VoI 22 ， No.5 2003 10 文章编号： 1000 6281 （ 2003 ） 05 0433 05 Received date ： 2003-01-23 Foundation item ： NationaI NaturaI Science Foundation of China （ No06 ） . Biography ： Shang Guangyi （ 1959- ）， maIe ， Beijing ， High-engineer . Scanning near-field opticallspectrofluoro microscopy for operation in liguids SHANG Guang-yi ， ZHU Chuan-feng ， WANG Chen ， WAN Li-jun ， BAI Chun-Ii （ Center for MoIecuIe Science ， Institute of Chemistry ， Chinese Academy of Sciences ， Beijing 100080 ， China ） LEI F H ， M Troyon （ Unit de Thernigue et AnaIyse Physigue ， EA 2061 ， UFR des Sciences ， Universit de Reims Champagne Ardenne ， 21 rue CI ment Ader ， 51685 Reims Cedex 2 ， France ） H Morjani ， J F Angiboust ， M Manfait （ Unit M DIAN ， CNRS FRE 2141 ， IFR 53 ， UFR des Pharmacie ， Universit de Reims Champagne Ardenne ， 51 rue Cognacg Jay ， 51096 Reims ， France ） Abstract ： In this paper we present a shear force nonopticaI detection method for tip sampIe distance controI ， which is reaIized by using a piezoeIectric bimorph cantiIever . Based on the method ， a scanning near fieId opticaI/spectrofIuoro microscope that can operate in Iiguids has been deveIoped. Near fieId fIuorescence spectra inside Iiving ceIIs obtained with the system are shown. Keywords ： scanning near fieId opticaI microscope ； shear force detection ； fIuorescence spectrum. CLC number ： TH742 ； TH744.16 Document code ： A Introduction Due to the diffraction Iimit to resoIution in conventionaI far-fieId opticaI microscopy ， various high- resoIution technigues ， such as scanning eIectron microscopy （ SEM ） and atomic force microscopy （ AFM ）， have been deveIoped. However ， the disadvantage of these technigues is that opticaI contrasts incIuding fIuorescence detection capabiIity are Iost ， which is important to study bioIogicaIIy reIevant sampIes . During the Iast decade ， it has been shown that a resoIution beyond the diffraction