开关触头电寿命预测方法分析.doc

开关触头电寿命预测方法分析   2006-7-5 15:24:19 ?????【文章字体：大?中?小】  HYPERLINK javascript:window.print(); 打印?  HYPERLINK javascript:window.external.AddFavorite(/stdlve/collinfo/106156.asp,开关触头电寿命预测方法分析) 收藏?  HYPERLINK javascript:window.close(); 关闭?  ? 一、引言 开关电器的可靠性直接影响整个电力系统的可靠性。电触头是开关电器的关键部件之一，其性能直接关系到电器的整体电性能，故研究触头的电寿命对故障诊断和系统维修等具有重要作用。 目前，国内外对电寿命的预测方法主要包括表面粗糙度法、有效接触距离法、接触电阻法、簇射电弧法、燃弧参数统计分析法、质量损耗法、频谱分析法、多变量寿命预测法等。但是，上述方法都难以实时反映触头剩余电寿命状态。因此，需要寻找一种通用、合理、能反映开关电器触头实时剩余电寿命的预测方法。 二、利用触头表面机械状态预测电寿命 本方法主要利用触头开闭过程中表面机械状态与操作次数N的关系预测电寿命。 （一）表面粗糙度法 电磁继电器在DC 10V，操作107次，分断感性负载的情况下，通过激光显微镜测量出每次开闭后的表面粗糙度，建立表面粗糙度与N的关系，进而预测触头的电寿命。结果表明，随着N的增加，触头表面粗糙度H会发生变化。由图1可知，操作105次后，触头允许的最大粗糙度Hmax迅速增加，具体关系为 式中Hmaxa——阳极最大粗糙度 Hmax，c ——阴极最大粗糙度 N——操作次数 若Hmax，a和?? Hmax，c超过允许的最大值，就认为触头失效，从而就能预测出触头的电寿命。其中，Hmax可由试验得出。 Hmaxc与N的关系（见图2）。其中，曲线1表示DC100 V，曲线2表示DC 0 V。可见，用H预测电寿命的方法具有不确定性。 （二）有效接触距离法 通过常开触头的有效接触距离与N的关系预测触头电寿命的方法。 有效接触距离是指触头完全打开时动、静触头间的距离。触头的有效接触距离是吸合时间和释放时间的函数（见图3）。吸合时间是指从线圈通电时刻起到常开触头第1次闭合的时间间隔。释放时间???指从线圈断电到常开触头第1次打开的时间间隔。通过测得每次操作过程中的吸合时间和释放时间，计算出有效接触距离，从而找出有效接触距离随操作次数的变化规律（见图4）。 由图4可知，随着N的增加，触头的有效接触距离增加。当实际测得的有效接触距离大于触头的最大有效接触距离时，说明触头失效，从而预测出触头的电寿命。 该方法适用于各种类型的电器，但困难之处是需要事先了解吸合、释放时间与接触距离之间的函数关系，需要试验确定最大有效距离。 三、接触电阻法 接触电阻Re是收缩电阴RS和表面膜电阻Rm的和。Rc随N的增加而变化，在触头开闭的操作过程中，一方面旧膜被破坏，降低了Rc；另一方面，由于触头间的多次撞击使触头材料的内部晶格发生畸变，造成内部电场不均匀，从而导致电子散射增加，增大了材料自身的电阻率。同时，在带载操作时，接触温升增高，也可能形成新的表面膜，增大接触电阻。实际Rc与N的关系取决于上述3种作用效果的总和，如图5所示。 由图5可知，不同材料的触头其Rc随N表现出不同的变化趋势，只有Au-60Ag随N的增加表现出明显的变化趋势，其他的变化都不明显。Rc随N增加变化不明显，如图6所示。 因此，用Rc预测电寿命的方法目前尚无统一定论，需作进一步研究。 使用此方法的困难之处在于建立簇射电弧Tu等参数与N之间的关系。此外，簇射电弧还与电压有关，不同电压下的簇射波形不同。 （一）燃弧参数统计分析法 针对真空断路器的燃弧时间统计特性（均值分析和标准偏差分析），说明燃弧时间与真空断路器开断能力之间的关系，试图预示开断是否达到极限。 用标准偏差S表示燃弧时间的分散程度，其计算式如下： 式中 xi——每次操作的燃弧时间 ——平均燃弧时间 n——样本数 通过对测得的大量燃弧时间值进行统计，制定一方差的评估标准值。当分散程度S大于评估标准值时，寿命终止。 在实际使用此方法时，关键是N的选取，N的不同会导致 ? 、S的不同，从而使N的变化规律也会不同。 （二）质量损耗法 本方法利用触头的质量损损耗△m与N的关系预测电寿命。其中△m包括分断和闭合过程中的损耗。以Ag/Cd0为例，在电压为32V，电流为DC 400 A，燃弧时间为1 ms条件下，每次动作后测出△m。根据△m与N之间的关系，预测触头的寿命，如图10所示。 由图10可知，△m随N的增加而增加，当△m接近最大时，表明触头失效，从而终结寿命。 该方法使用时的困难