科学方法绪论.ppt

材料科学的研究方法Instrumental Analysis in Materials Science;引 言;引 言;引 言;材料科学的研究方法;授 课 内 容（最常用的研究方法）;授 课 内 容（最常用的研究方法）;参 考 书 目;第一讲;光学显微镜的原理;放大倍数的极限： ? 2000? 分辨率的极限： ? 0.2?m （可见光照明） 景深的极限： ? 0.1?m （要求金相准备） 不能分析化学成分;用波长较短的电子波为光源 (25kV时?=0.007nm ) ? 10-100000?, 5nm 扫描方式导致长物距 ? 数十 ?m （1000 ?时，不要求金相准备） 分析电子束诱发的原子内层电子跃迁产生的特征x-射线;SEM的结构;SEM的扫描成象;SEM中产生的信息; SEM产生的x-射线谱;x-射线谱的标定规则;特征x-射线的能量与原子序数; SEM产生的x-射线谱;x-射线能谱的Si(Li)探测器;Ti合金的x-射线能谱;超薄窗口获得???Al-Si合金的x-射线能谱;x-射线波谱仪;EDX / WDX的比较;EDX / WDX的比较;SEM产生的电子谱; SEM中各种电子的产额; SEM中电子信号的探测 ——电子收集器;SEM的二次电子象衬度——拓扑衬度;SEM的景深 ? WD / d / M;电子的逃逸深度;电子的逃逸深度;电子被原子的散射几率;SEM三种模式的分辨本领;SEM的其他工作模式;钒单晶的（111）通道花样（背散射电子）;矽钢片的磁畴（背散射电子）;SEM的应用：比光学显微镜分辨率更高;SEM的应用：结构分析与成分分析结合;SEM的应用： 二次电子(左)与背散射电子象(右);SEM的应用：结构象与成分象;SEM的应用：景深的优势;SEM的应用：景深的优势;SEM的应用：成分线扫描;SEM的应用： 断裂断口的分析;SEM的应用： 裂纹扩展过程的实时观察;SEM的应用：  集成电路分析;SEM的最新附件： EBSD 技术（电子背散射衍射技术）;EBSD系统附件的构成;SEM所获得的菊池花样;EBSD分析系统的构成;冷轧铝箔在再结晶初期的EBSD分析结果;碳钢再结晶组织的EBSD分析结果(彩图);SEM的应用： ——超塑性变形Al-Li 合金的[111]背散射极图;美丽的错误---Diamond 或 C3N4?;第一讲 SEM/EPMA/EDX/WDX 小结