中子照相转换屏的角度响应研究.PDF

第 26 卷 第 3 期 CT 理论与应用研究 Vol.26, No.3 2017 年 6 月（321-326） CT Theory and Applications Jun., 2017 杜洋, 刘洋, 张 雄 杰 , 等 . 中 子 照 相 转 换 屏 的 角 度 响 应 研 究 [J]. CT 理 论 与 应 用 研 究 , 2017, 26(3): 321-326. doi:10.15953/j.1004-4140.2017.26.03.08. Du Y, Liu Y, Zhang XJ, et al. Angular dependence study of the conversion screen for neutron radiography[J]. CT Theory and Applications, 2017, 26(3): 321-326. (in Chinese). doi:10.15953/j.1004-4140.2017.26.03.08. 中子照相转换屏的角度响应研究? ? 杜洋 1，刘洋 2，张雄杰 1 ，陈俊松 1 1.东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心，南昌 330013 2.山东省计量科学研究院，济南 250014 摘要：在定量中子照相散射校正时需要考虑中子转换屏对不同角度入射中子的响应，中子转换 屏的角度响应研究在中子照相散射校正中具有很重要的意义。本文在理论上推导中子转换屏的 角度响应的解析式，并利用蒙特卡罗程序 MCNP5 对该解析式进行验证。利用蒙特卡罗方法对中 子转换屏角度响应的影响因素进行研究。给出中子转换屏的角度响应与转换屏厚度以及入射中 子能量之间的关系，中子转换屏的角度响应随着转换屏的厚度增大而增大，随着入射中子能量 的增大而减小，并得到 6LiF-ZnS（Ag）转换屏的最佳厚度为 0.3 mm。 关键词：转换屏；角度响应；中子射线照相；蒙特卡罗 doi:10.15953/j.1004-4140.2017.26.03.08 中图分类号：TL 99 文献标志码：A 中子射线照相术是一种优越的无损检测技术与定量分析技术，特别是作为一种定量 分析技术其广泛应用于核工程、生物学、材料科学等各个领域 [1－4]。然而定量分析常需 要考虑中子散射问题，定量中子照相散射校正方法研究是如今中子射线照相术的热点研 究领域[5－9]。基于点散射函数的散射中子校正方法尤其具有优越性，由于中子转换屏较薄 不能对进入转换屏中的中子进行完全的探测，故在散射校正过程中需要对转换屏的角度响 应进行校正。而目前对中子转换屏的角度响应问题研究较少。 本文推导转换屏角度响应的一般公式，并以 6LiF-ZnS（Ag）转换屏对热中子角度响应 为例进行蒙特卡罗模拟计算验证，对转换屏厚度以及入射中子能量对转换屏角度响应的影 响进行比较。 1 中子转换屏原理简介 由于中子难以使胶片感光或者被电荷耦合元件（charge coupled device，CCD）相机 记录，因此中子转换屏成为了探测中子空间分布的关键器件。中子转换屏分为瞬态屏与活 化屏，而瞬态屏中又分为发光屏与金属屏[10]。不管是哪种转换屏都是将难以被直接记录的 中子转换为可以被胶片或者是 CCD 相机记录的 X，γ 射线或者可见光子。在热中子定量照相 中子用的是瞬时发光屏。本文仅以瞬时发光屏 6LiF-ZnS（Ag）为例介绍其工作原理。 6LiF-ZnS（Ag）转换屏的工作原理如图 1 所示，中子进入转换屏后与 6Li 相互作用产生 收稿日期：2016-10-31。 基金项目：核技