第3章 误差的合成与分配精要.ppt

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第3章 误差的合成与分配精要

第四节 系统误差与随机误差的合成 二、按标准差合成 测量过程中,假定有 s 个单项未定系统误差,q 个单项随机误差,它们的标准差分别为: 1、单次测量情况 若各个误差的传递系数取 1,则测量结果总的极限误差为: 式中,R 为各个误差之间的协方差之和。 若用标准差来表示系统误差和随机误差的合成公式,则只考虑未定系统误差与随机误差的合成。 当各个误差均服从正态分布,且各个误差间互不相关时,测量结果总标准差为: 2、n 次重复测量情况 当每项误差都进行 n 次重复测量时,由于随机误差间具有低偿性、系统误差(包括未定系统误差)不存在低偿性,总误差合成公式中的随机误差项应除以重复测量次数 n 。 第四节 系统误差与随机误差的合成 总极限误差变为: 【例】 在万能工具显微镜上用影像法测量某一平面工件的长度共两次,测得结果分别为 , ,已知工件的和高度为 ,求测量结果及其极限误差。 第四节 系统误差与随机误差的合成 序号 1 2 3 4 5 6 误差因素 极限误差 随机误差 未定系统误差 备注 阿贝误差 光学刻尺刻度误差 温度误差 读数误差 瞄准误差 光学刻尺检定误差 - - - - 0.8 1 - - 0.5 0.35 1.25 1 未修正时计入总误差 修正时计入总误差 根据工具显微镜的工作原理和结构可知,测量过程中主要的误差见表。 【解】 两次测量结果的平均值为: 根据万能工具显光学刻线尺的刻度误差表,查得在 50mm 范围内的误差 ?=-0.0008mm ,此项误差为已定系统误差,应予修正。则测量结果为: 第四节 系统误差与随机误差的合成 在万工显上用影像法测量平面工件尺寸时,其主要误差分析如下: 1、随机误差 由读数误差和工件瞄准引起,其极限误差分别为 1)读数误差: 2)瞄准误差: 第四节 系统误差与随机误差的合成 2、未定系统误差 由阿贝误差等引起,其极限误差分别为 1)阿贝误差: 2)瞄准误差: 3)温度误差: 4)光学刻度尺的检定误差: 第四节 系统误差与随机误差的合成 3、计算测量值及其误差 计算测量值的误差时有两种方法: 方法1 当未修正光学刻尺刻度误差时 测量结果可表示为: 方法2 当已修正光学刻尺刻度误差时 【例】 用TC328B型天平,配用三等标准砝码称一不锈钢球质量,一次称量得钢球质量 ,求测量结果的标准差。 第四节 系统误差与随机误差的合成 (1) 随机误差: 天平示值变动性所引起的误差为随机误差。多次重复称量同一球的质量的天平标准差为 (2) 未定系统误差: 标准砝码误差和天平示值误差,在给定条件下为确定值,但又不知道具体误差数值,而只知道误差范围(或标准差),故这两项误差均属未定系统误差。 ① 砝码误差: 天平称量时所用的标准砝码有三个,即 的一个, 的两个,标准差分别为: 故三个砝码组合使用时,质量的标准差为 根据TC328B型天平的称重方法,其测量结果的主要误差如下: ② 天平示值误差 该项标准差为: 第四节 系统误差与随机误差的合成 三项误差互不相关,且各个误差传播系数均为1,因此误差合成后可得到测量结果的总标准差为 最后测量结果应表示为(1倍标准差): 第五节 误差分配 误差分配   给定测量结果允许的总误差,合理确定各个单项误差。   在误差分配时,随机误差和未定系统误差同等看待。 假设各误差因素皆为随机误差,且互不相关,有: 若已经给定  ,如何确定 Di 或相应的 ?i ,使其满足 式中, 称为部分误差,或局部误差 一、按等影响原则分配误差 等影响原则: 各分项误差对函数误差的影响相等,即 由此可得: 或用极限误差表示: 函数的总极限误差 各单项误差的极限误差 第五节 误差分配 进行误差分配时,一般应按照下述步骤: 二、按可能性调整误差 (1) 对各分项误差平均分配的结果,会造成对部分测量误差的需求实现颇感容易,而对令一些测量误差的要求难以达到。这样,势必需要用昂贵的高准确度等级的仪器,或者以增加测量次数及测量成本为代价。 按等影响原则分配误差的不合理性 (2) 当各个部分误差一定时,则相应测量值的误差与其传播系数成反比。所以各个部分误差相等,相应测量值的误差并不相等,有时可能相差较大。   在等影响原则分配误差的基础上,根据具体情况进行适当调整。对难以实现测量的误差项适当扩大,对容易实现的误差项尽可能缩小,其余误差项不予调整。 第五节 误差

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