第四章_庇腠面分析方法.pptVIP

2017-5-20 HNU-ZLP 1 第四章 表面分析方法 概 述 X光电子能谱(XPS) 俄歇电子能谱(AES) 扫描隧道显微镜(STM) 原子力显微镜(AFM) /?k1035835 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile . Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 2017-5-20 HNU-ZLP 2 4.1 概 述 表面科学研究始于20世纪60年代， 它的两个最主要的条件是： 超高真空技术的发展 各种表面灵敏的分析技术不断出现 表面分析技术的发展与材料科学的发展密切相关，它们相互促进： 八十年代，扫描探针显微镜（SPM)的出现使（材料）表面科学的研究发生质的飞跃； LEED所用的LaB6灯丝，STM中用来防振荡的氟化橡胶（Viton)，AFM所用的探针等都是材料科学发展的新产物。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile . Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 2017-5-20 HNU-ZLP 3 “表面”的概念 过去，人们认为固体的表面和体内是完全相同的，以为研究它的整体性质就可以知道它的表面性质，但是，许多实验证明这种看法是错误的； 关于“表面”的概念也有一个发展过程，过去将1个单位厚度看成“表面”，而现在已把1 个或几个原子层厚度称为“表面”，更厚一点则称为“表层”。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile . Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 2017-5-20 HNU-ZLP 4 表面分析方法的特点 用一束“粒子”或某种手段作为探针来探测样品表面，探针可以是电子、离子、光子、中性粒子、电场、磁场、热或声波（机械力）； 在探针作用下，从样品表面发射或散射粒子或波，它们可以是电子、离子、光子、中性粒子、电场、磁场、热或声波； 检测这些发射粒子的能量、动量、荷质比、束流强度等特征，或波的频率、方向、强度、偏振等情况，就可获得有关表面的信息。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile . Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 2017-5-20 HNU-ZLP 5 探测粒子 发射粒子 分析方法名称 简称 主要用途 e e 低能电子衍射 LEED 结构 e 反射式高能电子衍射 RHEED 结构 e 俄歇电子能谱 AES 成份 e 扫描俄歇探针 SAM 微区成份 e 电离损失谱 ILS 成份  能量弥散X射线谱 EDXS 成份 e 俄歇电子出现电势谱 AEAPS 成份  软X射线出现电势谱 SXAPS 成份 e 消隐电势谱 DAPS 成份 e 电子能量损失谱 EELS 原子有电子态 I 电子诱导脱附 ESD 吸收原子态及成份 e 透射电子显微镜 TEM 形貌 e 扫描电子显微镜 SEM 形貌 e 扫描透射电子显微镜 STEM 形貌 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile . Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 2017-5-20 HNU-ZLP 6 探测粒子 发射粒子 分析方法名称 简称 主要用途  e X射线光电子谱 XPS 成份 e 紫外线光电子谱 UPS 分子及固体的电子态 e 同步辐射光电子谱 SRPES 成份、原子及电子态  红外吸收谱 IR 原子态  拉曼散射谱 RAMAN 原子态  表面灵敏扩展X射线吸收谱细致结构 SEXAFS 结构  角分辨光电子谱 ARPES 原子及电子态、结构 I 光子诱导脱附 PSD 原子态 e－电子  －光子 I－离子 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile . Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 2017-5-20 HNU-ZLP 7 表中仅列出了探测粒子为电子和光子的常用表面分析方法。 此外还有离子、中性粒子、电场、热、声波等各种探测手段。 这些方法各有其特点，而没有万能的方法，针对具体情况，我们可以选择其中一种或综合