第二讲 X射线荧光光谱分析.pptVIP

大致分为使用晶体分光的波长色散型和使用半导体探测器的能量色散型 波长色散型又分为扫描式光谱仪（对各元素逐一进行角度扫描顺序进行测定）和多元素同时分析式光谱仪（每个元素单独配备一个测角仪同时分析多个元素） （1）X射线激发源 由X射线管所发出的一次X射线的连续光谱和特征光谱是X射线荧光分析中常用的激发源。靶材的原子序愈大，X光管的管压（一般为50-100KV）愈高，则连续谱强度愈大。 侧窗型和端窗型两种 *侧窗型管阳极接地 *端窗型管灯丝接地，系靶接正高压 （2）晶体分光器 色散的目的，是为了将分析元素的谱线（分析线）从其他来源的特征谱线中分离开来，以便于对它单独地进行强度测量。 X射线的分光主要利用晶体的衍射作用，因为晶体质点之间的距离与X光波长同属一个数量级，可使不同波长的X射线荧光色散，然后选择被测元素的特征X射线荧光进行测定。整个分光系统采用真空密封。 晶体分光器有平面晶体分光器和弯面晶体分光器两种。 * * 第二讲 X射线荧光光谱分析 X-ray Fluorescence Spectrometry “特别勉励大家做科研时一定要注意方法的创新。在竞争激烈的现在，往往技术上的突破，测试水平更为精确，就能发现新现象，解决新问题。” 光谱法是以光的发射、吸收和散射为基础建立起来的分析方法，根据光谱的波长和强度来进行定性和定量分析。 非光谱法不是以光的波长为特征信号，而是通过测量光的某些其他性质，如反射、折射、干涉、衍射和偏振等变化建立起来的方法。这类方法有折射法、干涉法、X射线衍射法等。 1895年德国物理学家伦琴Roentgen伦琴发现奇异的光线：可穿透不透明物质，使气体电离等，当时对其知之甚少——X射线 （光电效应） 1912年劳厄Laue认识到X射线具有一定波长的电磁波 （波动性） X射线的认识阶段： X射线分析主要应用在以下三个方面： 1 以X射线照射后在晶体中产生衍射和散射现象来研究物相结构的X射线衍射分析； 2 以被照元素产生特征X射线来研究物相化学成分的X射线荧光分析； 3 以被照元素对X射线吸收来探测物相貌相的X射线透视分析。 X射线光谱学的发展过程： 第一阶段 X射线的发现到布拉格方程的建立（1895-1913）； 第二阶段 莫塞莱定律的建立和原级X射线光谱学的发展（1913-1948）； 第三阶段 X射线荧光光谱分析的蓬勃发展（1948年至今）。 X射线的产生及其特点 X射线荧光分析的原理 X射线荧光分析法的特点 X射线荧光光谱仪器的结构 XRF定量分析方法 六 分析样品的制备 一 X射线的产生及其特点 1 X射线的产生 X射线管：由一个热阴极（钨丝）和金属靶材料（Cu、Fe、Cr、Mo等重金属）制成的阳极组成。 X射线的产生：当两极之间加上几万伏的高压时，阴极产生的电子被加速向阳极靶上撞击，电子的动能绝大部分转变成热能（一般用水冷却），少部分转变成一种波长为0.001~50nm的电磁波，这种电磁波即为X射线（X光、伦琴射线）。 连续光谱（白色光谱） 由于电子在与原子碰撞时的能量损失是一个随机过程，影响的因素有：碰撞的次数，电子的飞行方向，管内的残留气体等。因此我们得到的是具有各种不同能量（波长）的电磁波所组成的连续的X射线谱。 从X射线管辐射出的X射线光谱分为两种： 连续光谱的总强度为： I=KiZU2 其中：K为比例常数，Z为靶材料的原子序数，i为X光管电流，U为加速电压。 因此，靶材的原子序数越大，X光管的管压（一般为50~100kv）越高，则连续谱强度越大。 在X射线荧光分析中，一般以连续X射线作为激发源。这是因为X射线的强度存在连续分布的形式，适合于周期表上所有元素的各个谱系的激发。 当X射线管压U升高到一定的临界值，高速运动的电子的动能足以激发靶原子的内部壳层的电子，使它跳到能级较高的未被电子填满的外部壳层或离开体系而使原子电离。 这时原子中的某个内部壳层即出现了空位，同时体系的能量升高处于不稳定的激发态或电离态；随后（10-7—10-14s）即发生外层电子自高能态向低能态的跃迁，使整个原子体系的能量降低到最低而重新回到了稳定态。 原子在发生电子跃迁的同时，将辐射出带有一定频率或能量的特征谱线。特征谱线的频率大小决定于电子在始态和终态的能量差，其能量的一般表达式为： ?hνm1→m2=Em1- Em2 = ?E m1→m2 ?