一种压缩向量对测试集的新方法.pdfVIP

Vo l. 6 No. 11 Jun. 2006 科学技术与工程 第 6 巷第11 期 2006 年 6 月 1671-1815 (2006) 11 叩1486 -06 如ience Technology and Engineering @ 2006 Sci. Tech. Engng. 计算机技术 一种压缩向量对测试集的新方法 章毓杰 t~ 继l顷 (湖南大学计算机与通俗学院，长沙 41(082) 摘 要 通过施加→个测试向最对，瞬态电流测试可以检测出CMOS数字电路中的某些故障，这些故障通常(例如开路故障)不 能被传统的电压测试和稳态电流测试有效地检测出来。研究如何有效地压缩向盘对测试集与通常的测时向盘压缩一样，意义十 分重要，但目前人们对此研究得较少。首先使用三种现有的游程编码方法对向量对测试集进行压缩，并比较它们的压缩结果。在 此基础上，提出了一种更好的压缩方法。采用新方法对几个ISCAS标准电路的开路故障向量对测试集进行压缩，实验证明压缩 效果比三种游程编码方法都要好。而且，新方法的解码代价非常小，适合压缩大型电路的开路故障测试袋。 关键词瞬态电流测试测试集开路故障游程编码压缩解码 中罔法分樊号 TP306.2j ~献标识码 B 电路的影响越来越大，而这典故障用上述方法都不 数字电路测试包括逻辑值测试和电气参数测 能有效地检测出来。 20 世纪 90 年代中期，人们提出 试两个方面。多年来，由于基于电压测量的逻辑值 了瞬态电流测试(l日前l testing) 的概念PSl ，企图通过 方法具有测试速度快，识别 0 、 1 的精度要求不高等 分析无战障电路和故障电路在两次稳定状态之间 优点，再加上其理论方丽的研究已经很成熟， 电流变化过程的不同来发现…些其它测试方法不 _illI:界得到了广泛应用。 能发现的故障。瞬态电流是对电路转换过程中，电 然而，随着微电子技术的迅猛发展和 CMOS 电 路内部电压信号切换频繁程度的直接表现。瞬态电 路的广泛应用，传统的基于固定故障模型的电压测 流测试方法被认为可以用来检测一些 I IX，1测试方法 试方法对高集成皮、高性能数字集成电路已越来越 D 和其它方法所不能检测的故障，从而能够提高测试 跟得不足。一幌传统的基于逻辑值的测试方法对于 的故障覆盖率。 某些类型的故障，如桥接故障、延时故障等就显得 由于瞬态电流测试是通过分析无故障电路和 无能为力了。 故障电路在两次稳定状态之间电流变化过程的不 20 世纪 80 年代初，人们提出了用测量电路稳 间来发现故障，所以一般来说，用瞬态电流方法检 态电流(IDIX，1)的方法来测试 CMOS 电路[1.2] 。实验表 测电路中的一个故障需要给电路加上…对不同的 明，1川偏大的芯片即使功能正常，其可靠性也比较