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关 于 N A N O W O R L D ® 纳米技术是我们的领域。精度是我们的传统。 创造是我们的关键工具。 因此,我们位于瑞士,欧洲最强大、最创造性的地区之一。 通过应用我们的知识和我们高精确度的探针,我们的顾客在使用扫描探针显微镜(SPM)时和 特别在使用原子力显微镜(AFM)时能得到最好的结果。 P O I N T P R O B E ® A R R O W ™ P Y R E X - N I T R I D E 主要特点 主要特点 主要特点 • 全世界使用最宽阔的、名誉最好 • 通过针尖视界的最大化可以优化 • 氮化硅悬臂和针尖 的SPM、AFM探针 地定位 • 耐热Pyrex派热克斯 (硼硅) • 用于高分辨扫描成像的硅SPM、 玻璃做的支架 • 三面针尖由实际晶体平面确定的 AFM探针 • 可以用于接触式或动态式不 • 在支架上带调节凹槽 • 在悬臂的最末端有针尖 同成像应用 • 针尖半径典型地 8 nm • 针尖半径典型地 10 nm • 氧化削尖的角锥状的探针针 尖 • 保证的 12 nm • 保证的 15 nm • 针尖半径典型地 10 nm • 这种探针有不同形状的针尖可供 • 这种探针有三角形的和长方 选择 形的可供选择 P O I N T P R O B E ® 硅 A F M 探 针 全世界使用最宽阔的、名誉最好的、质量高的 SPM、AFM探针 Pointprobe® 针尖 (标准) ® 标准Pointprobe 探针的形状是多边棱锥体的。 探针的宏观半锥角沿着悬臂轴为 20°至25° ;从侧面看为25°至30° ;在针尖的最 末端部事实上为零度 。 ® Pointprobe 探针高度为 10 – 15 µm, 针尖半径典型地 比8 nm 好 (比保证的12 nm小)。 概况 • 用于高分辨扫描成像的SPM、AFM探针 ® Pointprobe 针尖 • 适合于所有著名商业SPM和AFM • 单晶硅支架支撑着悬臂和针尖 •

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