电光调制晶体半波电压倍频测量方法的讨论.pdf

第3 1 卷 第 1 期 应用光学 V o l. 3 1 N o. 1 20 10 年 1 月 　　　　　　　　　　　　　Jou rn a l o f A pp lied Op t ics　　　　　　　　　　　　　　 J an. 20 10 文章编号:(20 10) 0 10 10505 电光调制晶体半波电压倍频测量方法的讨论 1 1 2 郭明磊 , 韩新风 , 章毛连 ( 1. 安徽科技学院, 安徽 凤阳 233 100; 2. 中国科学院 等离子体物理研究所, 安徽 合肥 23003 1) 摘　要: 在电光调制晶体的半波电压倍频法测量中, 基于晶体电光效应分析了不同偏压下输出信 号与调制信号之间的线性与倍频关系, 并利用计算机模拟分析了调制信号的调制幅度对倍频信号 的影响, 分析结果表明倍频信号受高阶谐波分量的干扰产生波形畸变, 不利于晶体半波电压的倍 频法测量。提出利用李萨如图形的对称性来确定电光调制的倍频位置, 克服了调制幅度波形畸变 问题的干扰。通过对半波电压不同测量方法的实验测量和对比分析, 说明该方法可操作性好, 测 量精确度也比直接观察倍频信号输出波形要高。 关键词: 电光调制; 半波电压; 倍频法 中图分类号: TN 76; O 436. 4　　　　　　文献标志码: A - Frequen cy doubl in g m ethod f or ha lf wave voltage m ea surem en t - ba sed on electro opt ica l m odula t ion 1 1 2 , , GU O M in g lei HAN X in fen g ZHAN G M ao lian ( 1. A nhu i U n iver sity o f Scien ce an d T echno logy, F engyang 233 100, Ch in a; 2. In st itu te o f P la sm a Phy sics, Ch in e se A cadem y o f Scien ce, H efei 23003 1, Ch in a) : , A bstract To stu dy h a lf w ave vo ltage m ea su rem en