聚甲基丙烯酸甲酯/苯乙烯-丙烯腈无规共聚物薄膜表面原位原子力显微镜相图.pdfVIP

聚甲基丙烯酸甲酯/苯乙烯-丙烯腈无规共聚物薄膜表面原位原子力显微镜相图.pdf

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
聚甲基丙烯酸甲酯/苯乙烯-丙烯腈无规共聚物薄膜表面原位原子力显微镜相图

第 31卷 第 1期 应 用 化 学 Vo1.31Iss.1 2014年 1月 CHINESEJOURNALOFAPPLIEDCHEMISTRY Jan.2014 聚 甲基丙烯酸甲酯/苯乙烯一丙烯腈无规共聚物 薄膜表面原位原子力显微镜相图 陶荟春 张双双 张晶莹。 艾淑平。 由吉春 (。吉林建筑大学基础科学部 长春 130118;杭州师范大学材料与化学化工学院 杭州 310036) 摘 要 采用原位原子力显微镜在线跟踪方法 ,研究了聚甲基丙烯酸甲酯/苯乙烯一丙烯腈无规共聚物共混体 系表面相分离行为,得到了具有下临界共溶温度 (临界温度约为 175oC)原位相图。与文献报道的用离位方法 所得结果的主要差别是原位的临界相分离温度稍有提高,以及离位结果中存在的组成对称性。这些差别主要 来源于离位和原位实验方法上的差别 ,薄膜厚度减小导致的相容性 ,热力学历史的变化以及基底效应的加剧。 关键词 共混,相分离 ,原位,原子力显微镜 中图分类号:0631 文献标识码:A 文章编号:1000-0518(2014)01-0029-04 DOI:10.3724/SP.J.1O95.2014.30122 高分子共混物的结构往往由相分离行为控制 引。因此 ,对聚合物共混体系相容性的研究 刮(其中 包括共混物相图的测定),对其结构与性能的控制十分重要。薄膜材料 由于存在两个界面(空气/高分子 界面、高分子/基底界面),界面处的高分子链处于完全不对称的环境中。此外,强烈的受限,也造成薄膜 表面的相分离行为和相容性与本体存在很大的差别 ]。有关薄膜相图的研究方法很多,如:原子力显微 镜 (AFM)、光电子能谱 (XPS)以及小角散射方法(SAS)等。但是,各种方法得到的相图之间存在着较大 的差别,这与其实验条件 (如:高分子的相对分子质量、基底 以及薄膜厚度等等)有很大的关系E6-73。尤其 是原位实验与离位实验的差别对相分离温度 以及动力学的影响极其显著 ]。为了更加真实地反映高分 子薄膜在加工和使用过程中的复杂相行为,本文采用原子力显微镜,在线研究了聚甲基丙烯酸 甲酯/苯 乙烯一丙烯腈无规共聚物 (PMMA/SAN)体系的表面相分离行为,得到了该体系的原位相图,并将所得相 图与离位相图进行了比较。这对深刻理解相分离行为以及高分子共混薄膜的实际应用具有一定意义。 另一方面,大量的研究表明 ,随着组成的改变,相分离得到的结构存在明显差别:临界组成的共混物 趋于得到双连续结构,而远离临界组成的共混物更容易得到某一组分位于另一组分中的海岛相结构。 该规律在 PMMA/SAN体系中得到了很好的验证与解释。 1 实验部分 1.1 试剂和仪器 聚甲基丙烯酸甲酯 (PMMA,比利时Acros),Mw=3.87X10,Mw/M =3.72;苯乙烯一丙烯腈无规共 聚物 (SAN,美 国Aldrich),Mw=1.49X10,Mw/MN=2.66,其 中AN的质量分数为 30%。 D8Discover型x射线薄膜反射仪(德国Bruker);SPA.300HV型原子力显微镜 (日本精工),带有温 控装置,测试时采用轻敲模式,所用探针的力常数为40N/m(瑞士Nanosensor),扫描速度为 1Hz。 1.2 样品的制备 将切割成 1X1cm 的单晶硅片置于由80%H2SO、30%H202和去离子水按 100:35:15的体积比配 成的一定体积的清洗液中,在80℃煮30min,用去离子水将硅片在80℃煮30min,去离子水冲洗干净, 最后用高纯N2气吹干。配置 1Og/L的不同质量比的PMMA/SAN的1,2.二氯乙烷溶液。将此溶液在经 处理后的硅片上旋涂,旋涂速度 2000r/min,时间为30s。所得样品于真空烘箱中保持 12h,以除去残留 的溶剂,由x射线薄膜反射仪测得薄膜厚度为 (130.0±2.1)nm。 2013-03—12收稿 ,2013-05-31修回,2013-06-20接受 国家 自然科学基金 (2lO7402921104014)和浙江省杰出青年基金 (R4110021)资助项 目 通讯联系人:陶荟春,讲师;Tel:0431—84566

文档评论(0)

2752433145 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档