基于路径遍历算法的SoC总线测试矢量集压缩.pdfVIP

第 42 卷第 3 期 Vo l. 42. No. 3 微电子学 2012 律 6 月 Microelectronics Jun. 2012 ·耐试与封装· 基于路径遍历算法的 SoC 总线测试矢量集压缩 张金艺1·2·3 ，玉春华L3 ，丁梦玲2. 吴玉见1.3 ，段苏阳1.3 (1.上海大学特种光纤与光接入网省部共建教育部重点实验宅，上海 200072; 2. 上海大学微电子研究与 开发中心，上海 200072; 3. 上海大学教育部新型显示与系统应用重点实验室，上海 200072) 摘 要: 多跳变(MT)放障模型是目前提出的具有完整故障覆盖率的一种总线测试故障模型，但 其测试矢量集存在严重的矢量冗余。提出了一个基于路径选历算法的测试矢量压缩方法，以 MT 模型为基础，经压缩简化后得到更适用于SoC 总线测试的 BMTC 故障模型。实验结果表明，使用 提出的压缩方法，可以在保证 MT 模型故障覆盖率不变的情况下，将测试矢量数减少至原来的 1/8 ，从而大大节省总线测试成本，提高测试效率。 关键词: 总线测试;信号完整性;故障模型;测试矢量集压缩 申圄分类号: TN407 文献标识码:A 文章编号: 1004-3365(2012)03-0426-06 Compression of Testing Vector Sets on SoC 8us 8ased on Path Traversing AIgorithm ZHANG Jinyi !, 2. 3. WANG Chunhua1• 3 , DING Menglini. WU Yujianl. 3 , DUAN Suyang1• 3 (L Key Lab 0/ S，知rialFiher 伽ics and 伽iadk四 Nettu耐伪缸町0/ Educatiæ). 岛咱也iυ血.9um，伊i 2fJ.Xf12 .P.R αim; 2. Microelectronic.. Research .段世[0户时nt Center. Shanghai Uni时rsity. Shanghai 200072. P. R ChiwlI 3. Keyμbo/M田næd Dis内:ysand S.)阳， Appl叫阴例如句。f剧w础时，岛明阱zυ血. srwψm 拟XfI2. P. Rαim) Abstract: Multiple transition (MT) fault model was an effective bus testing fault model with high fault ∞ver­ ag巳 However. its testing vector sets have serious redundancy vect口凹. A comprehensive method of testing vector ∞mpression was proposed. and MT fault model was simplified into a bus multiple transition ωmpression (BMTC) fault model. which was more suitable for 如C bus testing. Experimental results showed that. using the proPOSed method. the testing vecωf number was reduced to 1/8 of the original with the same fault coverage of MT fault mod- el. which greatly cu