9-1晶体光折变效应及光学存储.pdf

实验9-1 晶体光折变效 应与光学存储 outline 一、背景知识 二、实验目的 三、实验原理 四、实验内容及方案 五、实验问题 六、参考文献 一、背景知识 • 光致折射率变化效应简称光折变效应。 • 光折变效应首先由美国贝尔实验室的Ashkin等人于20世纪60 年代发现。当初用LiNbO3和LiTaO3晶体进行激光倍频实验时， 意外发现强光辐射会引起晶体折射率的变化，从而严重损坏 了位相匹配条件。称为“光损伤”。在暗处可保留相当长的 时间，使人们认识到光损伤材料是一种优质的数据存储材料。 • 通过均匀光照或加热等办法，可以把光损伤的痕迹擦洗掉。 为了避免与永久性的破坏相混淆 ，人们普遍把这一效应称为 光折变效应。 一、背景知识 • 光折变材料在光辐照下，会引起光波的振幅、位相、偏振甚 至频率的变化。 • 应用：光放大、光振荡、光学记忆、图像存储、图像复原、 空间调制器、全光学时间微分器、图像相减、图像相加、图 像反演，图像相关和卷积等众多领域。成为实施光学信息处 理的基本手段。 二、实验目的 本实验以掺铁铌酸锂晶体为实验样品，观察晶体光折变效 应现象，学习研究光折变效应的实验方法，并利用光折变效应 进行光学图像存储。 三、实验原理 （一）光折变效应原理 电光材料在光辐照下，折射率随光强的空间分布而发生变 化的现象称为光折变效应。 机理：当晶体在光辐射下，光激发电荷进入邻近能带。光 激发载流子 因浓度梯度扩散，或在电场作用下漂移 ，或由光伏 打效应而运动。经过再激发，再迁移，再俘获，最后离别了光 照区，定居于暗光区。形成与光强分布相对应的空间电荷分布， 产生相应的空间电荷场，引起晶格畸变 ，在晶体内形成折射率 在空间的调制变化 ，或者说在晶体内写入体位相光栅 。 三、实验原理 （二）光存储实验原理 光折变材料：LiNbO3 ：Fe ，光激发的载流子主要是晶体中的杂质， 即铁离子 。 F 2 F 3 晶体内掺入少量的可变价铁杂质，它们以 e 和 e 的形式进入晶格， 2 Fe F 3 在光辐照下， 被光电离成 e ，激发至导带中的光电子迁移到暗 区被 而形成位相栅。从这个意义上讲，在LiNbO3 ：Fe 晶体中所发生的光 折变过程，可以看作是在光子协助下发生的转化过程。 F 2 F 3 实验中用掺铁铌酸锂晶体中发生的光折变过程，是 e 和 e 杂质 按光强重新分布的过程。 参考光束与信号光束在光折变晶体中相干写入全息图。 三、实验原理 （三）光折变全息存储特点 大容量、并行性、实时性、可循环使用、选择性、可接受 的暗存储时间。 四、实验内容及方案 （一）观察LiNbO3 ：Fe晶体光折变现象。 （二）利用双光束耦合方法观察晶体光折变效应形成的衍射光 栅的衍射现象，并测量晶体的样品的衍射效率。 （三）在LiNbO3 ：Fe晶体样品中写入和读出图像。 四、实验内容及方案 四、实验内容及方案 1. 启动激光器，在实验台上安排好仪器、光学元件位置，调节 光路等高； 2. 棱镜前放置1/2波片，反复转动改变偏振方向，用光功率计 测量两束光的光功率基本相等； 3. 棱镜信号光后放置偏振片以及激光功率计，调节偏振片直到 功率最大，这时偏振方向水平； 4. 分束镜参考光后放置半波片和平行方向的偏振片和激光功率 计，调节半波片使得功率最大，这时偏振方向也平行； 四、实验内容及方案 5. 在其中一光路中依次加入扩束镜、透镜和物，移动光屏位置， 将其放在焦面处； 6. 调节反射镜的位置和角度，使交叠在样品上的两束光光程大 致相同； 7. 参考光路放衰减片，在光屏位置处替换样品，样品前放一张 纸条，使得两光点很好重合； 8. 打开CCD写入一段时间后，遮蔽物光，可发现在显示器上依 然可以看到清晰的物象。 五、实验问题 1.写入光和读出光的强度对读出和写入全息图有何影