一种新颖的数模转换器静态参数内建自测试方法.pdfVIP

30卷 第10期 微 电 子 学 与 计 算 机 Vo1．30 No．10 2013年 10月 MICROELECTRONICS COMPUTER October 2013 一 种新颖的数模转换器静态参数 内建 自测试方法 程梦璋 (华侨大学，福建 厦门 362021) 摘 要：提出了一种新颖的数模转换器(DAC)静态参数内建 自测试(BIST)方法．该方法采用斜坡信号发生器和两 个参考电压作为标准信号源和误差极限电压，测试DAC的四个主要的静态参数：失调误差 (offset)，增益误差 (gain error)，积分非线性误差(INL)和微分非线性误差(DNL)，有效地节省 了参考源的数 目．静态参数计算的优化以及 测试器件的共享使得BIST电路所占芯片面积大大减小．仿真结果表明该方法是一种简单的测试DAC静态误差的 内建 自测试结构． 关键词：内建 自测试；积分非线性误差；微分非线性误差；静态误差 中图分类号：TN402 文献标识码 ：A 文章编号：10OO一7180(2013)1O一0127一O3 A New StaticTestM ethodofaDAC with aBuilt-InStructure CHENG Meng-zhang (HuaqiaoUniversity，Xiamen362021，China) Abstract：A new BIST (Built-InSelf-Test)methodtoteststaticparametersofaDAC (DigitaltoAnalogConverter) isproposedinthispaper．TheBIST method employsaramp generatorandtwovoltagereferencestOteststatic parametersofaDAC：offseterror，gainerror，INL(IntegralNon-Linearity)andDNL(DifferentialNon-Linearity )．TheoptimizationofcalculatingstaticparametersandthecomponentssharingcanreducetheBISTcircuitry．The simulationresultshowsthatthemethodisabletOdetectthestaticerrorswiththesimpleBIST structure． Keywords：built-inself-test；integralnon-linearity；differentialnon-linearity；staticerror I-1-]中采用器件动态匹配的方法完成 DAC的静态 1 引言 误差测试，该方法可测试高分辨率、高速度的DAC， 在许多混合信号片上系统的芯片中，模数转换 由于该方法需要大量的电阻和开关使BIST结构很 器 (ADC)和数模转换器 (DAC)是它们的基本模块， 难实现；文献 [2]中提出一种带有校正电路的BIST 它们为模拟和数字系统之间数据的传输提供了接 结构，该方法可使 BIST测试的准确性很高，这种方 口．转换器的性能对系统的性能影响很大，因此对转 法需要一些复杂的模块而使成本太高；文献E3]中采 换器性能的测试是非常重要的．然而在芯片中转换 用大量的参考 电压实现静态测试，BIST将待测 器的可观察性和可控性很差，使得对转换器性能测 DAC的输出电压和参考电压比较，这种方式容易实 试非常困难，利用传统的测试机测试将大大地消耗