基于PXI总线技术的测试设备研究.pdfVIP

Vo1．34No．1 舰 船 电子 工 程 总第 235期 16 ShipElectronicEngineering 2014年第 1期 基于 PXI总线技术的测试设备研究 李乐强 李 宁。 (1．西安市 79信箱 19分箱 西安 71O065)(2．西安东风仪表厂 西安 710065) 摘 要 为测试某电子系统发射机相关性能参数 ，设计了基于PXI总线的发射机测试系统。论文阐述了测试系统的 软硬件设计和关键技术，并对发射机进行了测试试验，测试结果表明该系统能快速可靠地测试发射机的电性能参数，对后续 研发测试设备有一定的指导意义。 关键词 电子系统；PXI总线；测试系统；软硬件设计 中图分类号 TP391 DOI：10．3969／j．issn1672—9730．2014．O1．005 TestEquipmentBasedon thePXIBus LILeqiang LINing (1．19Branch，No．79P．O．Box，Xi’an 710065)(2．Xi’anDongFengInstrumentFactory，Xi’an 710065) Abstract Forthetestofanelectronicsystem transmitterrelatedperformanceparameters，thetransmittertestsystem basedonPXIbusisdesigned．Thehardwareandsoftwaredesignandthekeytechnologyoftestsystem transmitterarede— scribed，andthetransmitteriStested．Thetestresultsshow thatthesystem cantesttheelectricalperformanceparametersof transmitterfastlyandreliably，hascertaindirectivesignificancetothefurtherresearchanddevelopmentoftestequipment． KeyW ords electronicsystem ，PXIbus，testsystem ，hardwareandsoftwaredesign ClassNumber TP39] 1 引言 2 系统总体结构及软硬件设计 发射机是某智能电子系统的重要组成部分，其 发射机测试系统由通用测试平台加专用适配 主要功能是将所需的信号进行功率放大，以便完成 器及基于 Labwindows／CVI开发软件组成 叫]。 该电子系统的远距离信号发射。通常发射机相关 通用测试平台包括计算机、PXI系统、大功率电源 电性能参数是采用通用标准仪器或通用性较差的 和UPC接 口等设备组成，被测设备和通用平台的 检查台进行测试 的，存在测试速度慢 、人工误判 、操 连接是通过专用适配器及专用 电缆连接实现 。系 作繁杂、不利于维修和升级等缺点。随着 电子技术 统整体框架如图 1所示 。 和计算机技术的发展，自动测试技术 日新月异，基 于PXI总线的测试技术代表了目前较先进的总线 测试技术，其特点是高性能、体积小、低成本，适用 于电子系统的组、部件测试 。本文以PXI总线仪器 模块系统为核心，提出了一种通用测试平台加专用 适配器的设计思路，开发设计了智能电子系统发射 机的测试设备_1q]。 图1 系统框架 * 收稿 日期 ：2013年 7月 11日，修回日期：2013年 8月 25日 作者简介：李乐强，男，硕士，高级工程师，研究方向：声纳及信号处理技术。李宁，男，硕士，高级工程师，研究方向：计 算机技术及信号处理技术。 2014年第 1期