三个实现完美中子照相的简单步骤.PDF

实现完美中子照相的三个简单步骤 Vered Anzenberg NE 22.54 2004 年5 月10 日 引言 查德威克于1932 年发现了中子，到1935 年，就有德国、法国和美国人独立地提出了中 子照相的专利。尽管早期的中子照相质量很糟糕，但是也展示了中子可以用于成像的特性。 在1948 年，Kallmann 发表了一篇关于中子照相的论文，他的技术沿用至今。 X射线长期以来在成像领域占主导地位。X射线与原子核的外层电子发生作用，对于相 对厚度较小的物体来说，它们可以穿透。另外，X射线在高密度的材料中衰减更快，在高原 子序数的物质中也是这样的。但中子是与原子核的核子发生反应的，它对轻一些的元素如H 、 O、B等元素更敏感。对金属来说，利用中子难以检测，中子在金属物体中可以穿透得更远。 中子不像X射线，它的暗区代表的是弱吸收如金属），亮区则代表的是强吸收轻核元素如H ）。 下面的图1分别显示了X射线（线）和中子（点）的衰减系数。如同上面提到的，X射线的衰 减在高原子序数的物体中更大，但是中子只是被散射。 （由于版权原因，图片被删除，请参考脚注中的网址） 1 /vpr/ward/NRAY.html 具有能够区分轻材料和金属的能力使得中子照相在许多学科中得到了应用。在材料科学 中，中子照相用于检查飞机零件的腐蚀状况，以及水在混凝土中的渗透情况。对于核工程来 说，利用成像技术来检查氢化锆包壳管，钚针，检查放射性废料和核弹头。在生物学中，可 以观察到水在植物和木头中的渗透。特别的，中子照相在发现材料中的气孔、裂缝和轻微的 缺陷方面性能优异。最重要的是，中子照相是一种无损成像的方法。（关于上面提到的中子 照相，请参见附录）。 那怎么来实现中子照相呢？有三个主要的组成部分：中子源、探测器和计算机断层成像 技术。这三个部分分别都有很多种选择，这与实际的应用情况有关。 中子源 多年以来，人们对中子源做了优化的工作。一般有三种源：加速器源、反应堆源和放射 性核素源。在选择中子源时需要考虑的重要问题是：中子的能量、强度、屏蔽问题和γ能量 与γ本底。一般的，热中子束用于中子照相，因为它们有着很好的吸收对比度，并且容易得 到。尽管快中子的吸收对比度没有热中子那么高，但它的好处是能量高，因此具有更好的穿 透能力，比如对厚的钢样品就是有用的。加速器由于可以产生高能的中子，因此也会被用到， 但是这同时带来了慢化的问题。对于放射性核素源，重要的是它们的半衰期，这关系到中子 束的强度和产额是否足够高，另外中子的能量也是重要的。 总结起来，中子束的选择准则为： 通量强度 中子束的空间分辨率 中子束的能谱 射入物体的中子束轮廓的均匀性 中子束的面积 γ射线的本底（在图像中形成噪声） 一般来说，许多地方都用反应堆源。由于中子的能量在几个MeV ，所以对大多数的应用 来说，需要慢化。 探测器 探测器用来测量穿透样品后的中子束，是二维积分位置灵敏探测器。常用的探测器为： X 射线胶片板组件 径迹/蚀刻胶片 成像板 闪烁体/CCD 相机 无定形硅（a-Si ） 平板探测器 中子被上述探测器所探测，或者通过核反应产生带电粒子，使胶片变黑，在特殊的箔片 上形成微径迹（径迹蚀刻），在半导体材料中实现电荷分离；或者通过对电子状态的激发。 中子束的衰减是按照下面的辐射衰减规律来进行的。 φ(x , y ,z ) φ (x , y ,E ) *e−Σ(x ,y ,E )*d （1） o 其中，Фo是射入物体的通量密度，d是样品的厚度，Ф是射出物体的通量密度，Σ是材料 总的中子宏观截面。对于含有几种元素的材料，总的宏观截面为： Σ ∑p Σ ∑p (N σ ) （2 ） a a