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第六章 微机存储器系统
学习目标: 了解半导体存储器的分类、组成及组成部件的作用,掌握存储系统的层次结构。 理解SRAM、DRAM芯片的组成特点、工作过程、了解典型芯片的适用范围。 掌握半导体存储器与CPU的连接。 微型机的存储系统 Cache存储系统 解决速度问题 虚拟存储系统 解决容量问题 存储器的层次结构 微机拥有不同类型的存储部件 由上至下容量越来越大,但速度越来越慢 两大类——内存、外存 内存——存放当前运行的程序和数据。 特点:快,容量小,随机存取,CPU可直接访问。 通常由半导体存储器构成 RAM、ROM 外存——存放非当前使用的程序和数据。 特点:慢,容量大,顺序存取/块存取。需调入内存后CPU才能访问。 通常由磁、光存储器构成,也可以由半导体存储器构成 如硬盘,软盘,光盘,U盘 高速缓存器Cache Cache实际是主存一部分内容的复制。 CPU在某一小段时间内要执行的程序,事先从主存储器调入高速缓存区。当CPU执行这些程序时,直接从高速缓存区中取得。减少访问低速主存储器的次数,从而提高了CPU执行指令的速度。 高速缓存器容量远小于低速大容量主存储器,所以它不可能包含后者的所有信息。高速缓存器设计的目标就是使CPU访问尽可能在高速缓存器中进行。 “读”操作工作过程 (1)送地址 — CPU通过地址总线将地址送入地址寄存器,并译码; (2)发出“读”命令 — CPU通过控制总线将“存储器读”信号送入读/写控制电路; “写”操作工作过程 (1)送地址 — CPU通过地址总线将地址送入地址寄存器,并译码; (2)发出“写”命令 — CPU通过控制总线将“写”信号送入读/写控制电路; 6.1.4 存储器的技术指标 1 存储容量:是指一块存储芯片上所能存储的二进制位数。图 2 存取周期:通常指连续存入或取出两个数据所用间隔的时间 3 取数时间:从CPU发出读命令开始,到存储器获得有效读出信号的一段时间。 4 可靠性:通常以平均无故障工作时间MTBF (Mean Time Between Failures)来衡量,MBTF越长,表示可靠性越高。 5 经济性:常以“性能价格比”来衡量 假设存储芯片的存储单元数是M, 一个存储单元所存储的信息的位数是N,则其存储容量为M×N。 例题 1、已知单片6116芯片的地址线是11位, 每个存储单元是8位,求其存储容量? 例题 2、若要组成64K字节的存储器,以下芯片各需几片? ①6116(2K×8) ②4416(16K×4) 区别:芯片的存储容量和微机的存储容量 微机的存储容量 —— 由多片存储芯片组成的总存储容量。 ①微机的最大内存容量 —— 由CPU的地址总线决定。 如:PC486,地址总线是32位, 则,内存容许最大容量是232=4G; ②实际的装机容量 —— 由实际使用的若干片存储芯片组成的总存储容量。 由能够表示二进制数“0”和“1”的、具有记忆功能的一些半导体器件组成。如触发器、MOS管的栅极电容等。 能存放一位二进制数的器件称为一个存储元。 若干存储元构成一个存储单元。 6.2.1 随机读写存储器RAM 双极型RAM的特点: 存取速度高; 集成度较低(与MOS相比); 功耗大; 成本高。 所以,双极型RAM主要用在速度要求较高的微型计算机中或作为Cache。 MOS RAM: 静态RAM:速度快(比DRAM快2~3倍),集成度低,价格高。常用于制作Cache 动态RAM:速度低,集成度高,价格低。需要刷新。应用于内存条、显存等。 SRAM(staic RAM)静态RAM 基本存储电路是双稳态电路,由6个MOS场效应晶体管组成。利用半导体触发器的两个稳定状态表示“1”和“0”。如图六管静态存储电路。 DRAM(Dynamic RAM)动态RAM 思想:由于MOSFET栅极电阻很高,即使去掉Vcc和负载管,VF1和VF2栅极上的电荷也能维持一定时间,只要加上栅极电容,靠其电荷来维持数据的存储即可。单电容电荷会放电,因此需刷新电路。 利用电容端电压的高低来表示“1”和“0”。 DRAM(内存条)按内存的不同标准分: 》RDRAM 》SDRAM 》DDR SDRAM DDR SDRAM Masked ROM(Read-only memory):掩膜只读存储器,程序在生产时固化,再不能被擦除 PROM:一次性可编程的ROM EPROM (Erasable-and-programmable ROM):可擦除可编程ROM UVEPROM: 紫外线可擦除的 EEPROM: 电可擦除的 快速擦写存储器Flash Memory :又称快闪存储器 主要特点:结合各种存储设备的最优特性
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