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徐慧超,4 - 上海应用物理研究所
YAG晶体在软X射线荧光靶探测器中的应用徐慧超 周剑英 龚培荣 朱周侠 张永立 黎 忠中国科学院上海应用物理研究所上海光源束线工程部201204)
摘要 荧光靶探测器是同步辐射光源光束位置定位的重要设备之一,本文在96?500 e软射线内对CVD金刚石薄片和CeYAG晶体薄片进行光致发光亮度的测试,观察到CeYAG在该能量段的发光亮度比金刚石高,完成了上海光源软X射线荧光靶探测器靶材的实验研究与探测器的设计;同时给出了YAG晶体荧光靶探测器在线使用时观察到的相干光的衍射图像。荧光靶YAG晶体金刚石薄片软X射线TL814
目前,上海光源光束线站射线光束位置监测(XBPM-ray beam position monitor)系统使用三种射线位置探测器,即刀片式探测器、荧光靶探测器和丝扫描探测器。荧光靶探测器主要用于光束位置寻找和粗略定位,用射线打在荧光(如晶体或荧光粉)发出可见光射线的位置和空间分布。上海光源一期7条光束线站的荧光靶材料荧光粉或CVD金刚石薄片固定在底座上机械结构图1。靶片安装在水冷支架上,置于光路中真空腔体内,气缸驱动将荧光靶放下置于光路中,观测窗口外用CCD摄像头观察可见光光斑测量其光束的位置参数测量完毕提起荧光靶让开光路。荧光粉型发光效率高,多用于低能量、低光通量位置上,如白光区,荧光粉易脱落,给使用带来较多不便,所以新光束线站建设设计新靶片型探测器。图1上海光源荧光靶结构Fig.1 The structure sketch of FS BPM in SSRF.
软X射线荧光靶探测器靶材实验
上海光源一期工程多数为硬线站,其射线能量较高大于2eV),而新建的软射线干涉光刻XIL)线站,最低能量为85 eV,对软射线被激发产生荧光的材料和硬射线的不同,因此选择荧光靶材料关键。Ce:YAG是一种高效的闪烁体材料,多用LED发光器件的荧光粉,将其粉末涂层用于射线医学成像,单晶体与光电倍增管结合用于核辐射探测。为确认这种荧光靶材的发光效率,将Ce:YAG晶体片Ф35 mm×0.5 mm,Ce: 0.3%?0.5%)和CVD金刚石薄片Ф35 mm×0.3 mm)分别安装在实验线站的光路上,在96?500 e能进行光致发光效率的比较测试。测试装置的原理图1相似,入射光为单色光,所以不使用碳滤膜。
测试时,首先调节椭圆极化波荡器EPU)的磁隙使入射光达到指定能量,再调节光路中光栅找到光束中心使入射光强度最大;光束调整好后将测试样品引入光路,射线打在测试样品上即产生可见光光斑;真空腔外的观察窗口用CCD摄像头记录测试样品上的光致发光图像,见图2。?(d)分别为CVD金刚石薄片入射光入射光能量为96、300500 eV的实验结果,?(h)为相应的CeYAG晶体的发光图像。用mage J软件美国全国卫生研究所开发的公共软件,主要用于医学图像分析)读出光斑处的灰度,全黑为0度,全白为256,由于测量光斑Ф200 μm,故随机读出光斑内个相近点的灰度值,然后取平均。96?500 e软射线Ce:YAG晶体的发光效率远高于金刚石是由YAG石榴石结构的复杂氧化物特性(发光性能、光电性能等)决定的?5]。另外Ce3+的加入使YAG晶体的发光效率得到很大提高,达2500 ph/eV[6]。实验结果表明,YAG晶体从96 e起发光亮度就已饱和,完全满足要测量的能量范围要求96 eV是测试时实验线站能产生的最低能量。CVD金刚石片在能量增加时其发光亮度变化不大,其灰度值均较YAG晶体的小,不适合作低能软射线的荧光靶探测器靶材。选择荧光靶材除考虑发光效率还要考虑材料的耐辐照性能,YAG晶体在96?500 e的软射线范围内发光效率远高于金刚石膜;但金刚石片的机械性能、热学性能及耐辐照性能优于YAG。因此对观测高能量的光子或高功率密度的前端区束流,金刚石膜是更合适的选择。两种材料的特性参数见表。
图2 CCD记录的光致发光图像 Fig2 The photograph of photoluminescence by CCD camera.
表1金刚石膜与YAG晶体的材料特性[7?11]Table 1 Characteristics of Ce:YAG, CVD diamond[7?11]
荧光靶材料Fluorescence screen material 原子序数Atomic number 密度ensity / g?cm?3 熔点 elting point / °C 25℃热导率hermal conductance (at25℃) / w?℃?1?cm?1 线性热膨胀系数inear thermalexpansion coefficient/10?6 °C?1 硬度ardness(努氏)耐辐照特性 adiation ha
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