利用SiP技术提高精密数据采集信号链的密度讲解.PDFVIP

利用SiP技术提高精密数据采集信号链的密度 作者：Ryan Curran 分享 精密数据采集的市场空间中存在一个普遍需求，即在保持性能的 A D I 公司在开发此产品时对常见的设计错误进行了分析，以确定 同时提高信号链的密度。由于越来越多的应用逐渐倾向于依照通 出有助于解决这些问题的方法。结果表明，信号链层设计中的很 道的ADC 方式，或试图将更多通道集成于同一尺寸中，因此通道密 多错误主要围绕 SAR ADC 的两个区域—参考输入和模拟输入。很 度是许多数据采集信号链设计工程师十分关注的问题。此外，目 多信号链误差都与决定整体模数转换性能的ADC 的外围电路有关。 前行业中存在的一个趋势是，力求使精密电路更易于使用，并且能 关于基准电压，常见的错误包括基准旁路电容的布局和尺寸不当， 够更轻松地实现数据手册中的性能。这样就有利于构建一些子系 基准电压源的驱动强度不足，以及基准电压源产生的噪声频谱密 统，通过使用系统级封装 (SiP) 技术实现信号链而解决上述问题。 度过大。若SAR ADC的参考输入存在这些不妥当的设计条件，可能 会导致A DC 作出错误的位判断。至于A DC 的模拟输入，观察到的 ADI 公司根据此子系统策略生产的第一个系列为ADAQ798x 数据采 常见设计问题包括：ADC 驱动器选型不当，ADC 驱动器和ADC之间 集产品。ADAQ798x是一种16位模数转换器子系统，将四个通用的 滤波器的带宽不适当，以及滤波电容介电材料选择不当。这些系 信号处理和调理模块集成到一个SiP设计中，可支持多种应用。该 统级设计问题以任何方式组合都可能会严重影响ADC 的转换性能。 系列器件也包含最关键的无源器件，可避免因使用逐次逼近型寄 ADI 公司在开发ADAQ798x器件时所作的一系列选择都旨在解决这 存器 (SAR) 模数转换器 (ADC) 的传统信号链所导致的很多设计难 些问题。 题。这些无源器件是实现额定器件性能的关键因素。 如上所述，要使一个基于SAR ADC 的转换系统实现数据手册中的 纵观使用SAR ADC的应用和市场，如工业、仪器仪表、通信及医疗保 性能，必须考虑到某些设计因素。SAR ADC基准电压源和模拟输入 健，可以发现，数据采集信号链的某些部分在这些应用中很常见，而 源的特性是决定转换信号链设计是否成功的关键。通常，一个SAR 另外某些部分则可能存在广泛的不同。还可以发现，这些信号链使 A DC 需使用一个低阻抗基准电压源和一个较大的、布置适当的去 用不同的输入源和传感器阵列。因此，在向ADC提交信号之前，将会 耦电容。该旁路电容用来补充A DC 在S A R位校验期间消耗的电荷， 执行各种形式的信号调理。使用不同的输入源意味着系统的满量程 可看作为ADC 外部SAR阵列中的一个元件。ADC还需要一个合适的 可能不同，并且需要采用不同的基准值以使动态范围最大化。某些 模拟输入源，其噪声性能和带宽应足以使A DC 输入建立至所需分 应用为多通道方式，因此会使用一个前端多路复用器。根据不同应 辨率。图