- 1、本文档共6页,可阅读全部内容。
- 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
大规模集成电路总剂量效应测试方法初探-物理学报
第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报
D$ # ’( # , , ,
J5K 6D$ I5 6 # L;?M;: ’(
( )
#B$’E’(ED$ # E#(B! +3F+ .2G)H3+ )HIH3+ #’( 3NO? 6 .NP 6 )5Q 6
!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!
大规模集成电路总剂量效应测试方法初探
贺朝会 耿 斌 何宝平 姚育娟 李永宏 彭宏论 林东生 周 辉 陈雨生
(西北核技术研究所,西安 信箱 分箱,西安 )
! #$ %#’(
( 年 月 日收到; 年 月 日收到修改稿)
’$ # ’( ’$ $ #%
提出了初步的大规模集成电路总剂量效应测试方法。在监测器件和电路功能参数的同时,监测器件功耗电流
的变化情况,分析数据错误与器件功耗电流变化的关系及其总剂量效应机理。给出了大规模集成电路:静态随机
存取存储器( !
)、电擦除电编程只读存储器( )、闪速存储器( )和微处理器( )的 总
)*+, --.*/, 01+)2 */, 3.4 35 !
剂量效应实验的结果6
关键词:测试方法,总剂量效应,大规模集成电路
: ,
!## !#7 %$(8
积累到一定程度时,器件功能失效 因此,这种现象
6
称为电离总剂量效应 图 所示为典型的 晶
#9 引 言 6 # ?,/)
体管()和 晶体管()的电流 电压( )特性
; @,/) A B !B
随着半导体器件集成度的不断提高,大规模集 曲线随辐射电离总剂量的增加而逐渐漂移的过程6
成电路越来越多地应用在航天器上6 空间辐射环境 图中未画出界面陷阱电荷的影响,界面陷阱电荷会
中的带电粒子和电子在集成电路中产生的电离总剂 使曲线的斜率减小 图中横坐标为栅极电压( ),
6 =
量效应,严重影响航天器的可靠性及在轨寿命6
文档评论(0)