SPC控制图使用步骤.ppt

SPC控制图使用步骤 1、收集数据 2、建立控制限 3、解释统计控制 4、延长控制限以继续控制 控制图两种基本类型 1、计量型控制图： 来自过程数据是连续的（如直径、长度） X（均值）-（极差）R图 2、计数型控制图： 来自过程数据是不连续的（如通过和不 通过、接受和拒收） P图、NP图 SPC使用控制图准备工作 1、建立适合实施的环境 2、定义过程 3、基于以下内容确定控制的特性或特征 顾客的需求 现存和潜在的问题区域 特性之间的相互关系 取样表 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 2.97 3.08 使用现有子组大小的计算δc=R/D2R：子组极差的平均值n :一个子组内样本的数量D2:随样本容量n变化的常数 控制图典型特殊原因准则汇总 1、一个点距中心线超过3根标准差 2、连续7点在中心线的同一侧 3、6点连续上升或下降 4、连续14点交替上升或下降 5、连续3点中有2点距中心线大于2个标准差（同侧） 6、连续5点中有4点距中心线大于一个标准差（同侧） 7、连续15个点在距中心线一个标准差内（两侧） 8、连续8个点距中心线大于1个标准差（两侧） 计量型控制图公式 子组均值： X= 子组极差： R= X MAX – X MIN 每个子组内 X1+X2+…..XN N N 一个子组内样本的数量 计量型控制图公式 平均均值 X1+X2+…..XN X= K （确定过程平均和平均极差的子组数） 平均极差： R1+R2+….RN R= K 计量型控制图公式 X 的标准差的估计： δC = R/D2 X 的标准差的估计 δX = δC / N 计量型控制图公式 中心线 CL X = X CLR=R 控制限 UCLX=X+A2R LCLX=X-A2R UCLR=D4R LCLR=D3R 不合格品率图（P图） 单个子组内不合格品率 PI=NPI / NI NI : 被检零件的数量 NPI ：发现的不合格零件数量 平均不合格品率： NPI+ NP2…….. NPK P= NI + N2 +….. NK K：子组数量 NI都相等 不合格品率图（P图） 中心线计算公式： CLP=P 控制限计算： UCLPI=P+3 P（1-P）/ NI LCLPI=P-3 P（1-P）/ NI 如果样本容量是相等的（N ) 不合格品率图（P图） 当样本容量发生变化时 前提条件是MINNI / MAXNI ≥0.75 使用恒定的控制限 UCLP=n+3 P（1-P）/ n LCLP=P-3 P（1-P）/ n n：平均样本容量 附录E 对照表 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 2.704 2.847 2.970 3.078 A2 1.88 1.023 0.729 0.577 0.483 0.419 0.373 0.337 0.308 D3 0 0 0 0 0 0.076 0.136 0.184 0223 D4 3.267 2.574 2.282 2.114 2.004 1.924 1.864 1.816 1.777 过程能力分析 CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标,汉语译作工序能力指数，也有译作工艺能力指数过程能力指数。工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。对于任何生产过程，产品质量总是分散地存在着。若工序能力越高，则产品质量特性值的分散就会越小；若工序能力越低，则产品质量特性值的分散就会越大。 cpk CP：能力指数 USL-LSL USL-LSL CP= = 6 δC 6（R/D2） CPK≤CP （双边公差） CPK等于CPU和CPL中的最小值。 δC ：子组内变差， 可以用 R/D2或S/C4估计 USL：公差上限 LSL：公差下限 cpk USL- X