是德科技使用去嵌入工具进行虚拟探测 - keysight.pdf

是德科技 使用去嵌入工具进行虚拟探测 应用指南 S 参数系列 当不能进行直接测量时，可用是 德科技的电磁场求解程序来确 定互连的 S 参数…… 02 | 是德科技 | S 参数系列：使用去嵌入工具进行虚拟探测——应用指南 使用去嵌入工具，虚拟访问难以到达的测量点 目前的器件和平台很多都是高度集成的，存在着许多无法直接接 触的物理测量点。是德科技的电磁场求解程序可以提供虚拟测量 功能，进而确定 S 参数。 现在，我们要介绍如何使用 S 参数模型来对示波器探头和兴趣点之间的互连响应进行去 嵌入，即“虚拟探测”。首先，我们看一下如何获得 S 参数模型。最简单的方法是将 VNA 连接到互连的各端并测量 S 参数，但这只在某些情况下适用；直接减去长电缆的效 应就是一个例子。如果一端难以访问呢？虚拟探测的主要前提是：探头很难连接到要探 测的点上。为此，我们提出基于电磁（EM）场求解程序进行建模，简言之，就是建立基 于电磁场的模型。 这种方法已经越来越普遍。电子行业向微型化、集成化转变的所带来的压力仍是有增无 减。事实上，密集球柵阵列（BGA）封装、高层数印电路板（PCB）、三维集成电路（IC）、 非平面、多层晶圆、小于 15 纳米的门（选通）和超低功率设计等新技术，将会继续消 除直接点测量。在很多情况下，唯一获取传输线参数的可行方法便是进行仿真。 正如本系列专题中之前的文章所述，是德科技提供了灵活的解决方案，尽可能简单地将 这项新技术添加到您的装备库中。为探讨这个问题，我们要用到的配置将会包括：是德 科技的 InfiniiSim 去嵌入软件，Infiniium 实时示波器，还有一个利用 Keysight EEsof EDA 电磁场求解程序生成的基于电磁场的模型：ADS Momentum Element 、EMPro 有限元法 （FEM）Element、或 EMPro 时域有限差分 （FDTD） Element 。 当前窘境 在进行测量时，将探头直接连接到可访问的元件或电路是非常可靠、简单的方法。但另 一方面，无法访问的测量点也切实存在。例如，焊锡下方 BGA 内部的信号球无法在不损 坏 IC 的情况下接触到。电路板内层的铜线轨也是同样情况。 Infiniium 实时示波器与 InfiniiSim 去嵌入软件结合使用，使工程师可以“测量”被测件上 的任何一点，甚至那些无法用物理探头访问的点。被测件可以是全满的印刷电路板（PCB） 或高度集成的现场可编程门阵列上的任何触点，甚至是多层基片上的一条传输线或过孔。 该测量可通过在一个方便的点（例如，PCB 边沿的 SMA 连接器）进行“远离”或“虚拟” 探测，然后“减去”介入连接的时域响应来实现测量。 就像我们看到的，这个过程称为 去嵌入。 本论文讲解了如何使用 3D 结构、材料属性和电磁仿真来生成去嵌入信息，即使是对于 难以访问的兴趣点也可使用此方法来测量。 03 | 是德科技 | S 参数系列：使用去嵌入工具进行虚拟探测——应用指南 EM 101 EM 是模拟工程师们多年来一直在研究的重要课题。数字工程师在过去无需去理解它， 直至时钟速度提高至 GHz ，才开始重视起来。根据经验，当跨阻抗不连续性的传播延迟 大于数字信号边沿的上升/ 下降时间时，必须使用 EM 。 EM 方程组也被称为麦克斯韦方程组。这个基本方程组（也称为“总电荷”公式）包括电荷、 电荷的动量、它们生成的电场、磁场，以及由此产生的洛仑兹力。这个方程组包括两个 基本常数（真空电容率ε 和真空导磁率μ ），它们的值依照使用的单位制来确定。 0 0 尽管总电荷表述的是一个基本原理，但其实际用途却非常有限，因为人类的任何一个标 度系统都拥有数量庞大（近似于阿伏伽德罗常数）的带电粒子，使这个方程组过于复杂 而难以求解。 幸好有一个技巧——我们将其称为自由电荷公式——将大多数电荷“积累”成线性的宏 观材料属性：欧姆性电导率、相对电容率和相对磁导率：